[发明专利]延迟电路测试方法以及测试电路

权利要求书

1.一种延迟电路测试方法，运行于一测试模式下，包括：

以一时脉产生器产生一或多个周期的时脉信号；

输入该一或多个周期的时脉信号至一延迟电路，该延迟电路输出经延迟的时脉信号；

以一计数器对该经延迟的时脉信号进行计数；以及

比对该计数器的计数结果与输入该延迟电路的该一或多个周期的时脉信号的周期数量，判断该延迟电路是否有误。

2.根据权利要求1所述的延迟电路测试方法，其中该延迟电路测试方法运作在一测试电路中，在该测试模式下，设于该延迟电路的输入端的一第一切换电路将线路切换至该时脉产生器，以产生该一或多个周期的时脉信号。

3.根据权利要求2所述的延迟电路测试方法，其中，在该测试模式下，该时脉产生器将产生的时脉信号的脉冲宽度与一待测电路运作的一时脉周期相同。

4.根据权利要求2所述的延迟电路测试方法，其中该经延迟的时脉信号输入至该测试电路中设于该延迟电路的输出端的一或多个正反器，该正反器的数量设计为能记录该时脉产生器产生的时脉信号的脉冲周期数量。

5.根据权利要求4所述的延迟电路测试方法，其中，在该测试模式下，设于该延迟电路的输出端的一第一切换电路将线路切换至该计数器，使得该计数器对该经延迟的时脉信号进行计数。

6.根据权利要求5所述的延迟电路测试方法，其中该经延迟的时脉信号触发该计数器运作。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的延迟电路测试方法，其中该延迟电路根据一延迟相位控制信号控制其中延迟级数。

8.根据权利要求7所述的延迟电路测试方法，其中，在该测试模式下，通过一延迟电路控制电路调整该延迟电路的延迟级数到最大，使得该一或多个周期的时脉信号通过该延迟电路中所有的延迟元件后输出。

9.一种测试电路，包括：

一延迟电路；

一时脉产生器，设于该延迟电路的一输入端，用以产生一或多个周期的时脉信号，输入该延迟电路；

一计数器，设于该延迟电路的一输出端，用以计数经该延迟电路延迟的该一或多个周期的时脉信号；

其中，通过比对该计数器的计数结果与该时脉产生器产生的时脉信号的周期数量检查该延迟电路是否有误。

10.根据权利要求9所述测试电路，其中该延迟电路为串列相接的多个逻辑门的组合，根据一延迟相位控制信号决定一延迟级数。