[发明专利]一种芯样垂直度测量系统在审
| 申请号： | 202111439362.7 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114383588A | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 李德平;刘勇;王佩仪;杨兵;陈文辉;周禹熹;肖文林 | 申请（专利权）人： | 深圳市勘察研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01C15/12 | 分类号： | G01C15/12 |
| 代理公司： | 北京盛联科创知识产权代理有限公司 11988 | 代理人： | 张晓龙 |
| 地址： | 518026 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种芯样垂直度测量系统，涉及芯样垂直度领域。芯样垂直度测量系统包括：控制底座组件、转盘组件和测量组件。芯样压缩位移传感器，产生初始位移，夹紧件夹紧固定住芯样，电动转盘带动芯样转动，记录第一位移测量件和第二位移测量件上下两点位移变化量（连续曲线），同一时刻两点位移差记为S，第一位移测量件和第二位移测量件之间间距记为L，通过公式：余切值=L/S（S取测量最大值），通过余切值换算成角度，进而判断垂直度。通过第一位移测量件和第二位移测量件检测外壁的偏差值，再计算出垂直度，减少人工手动测量，肉眼读数，人工耗时长，还效率低并且易出错的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 垂直 测量 系统 | ||
【主权项】：
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