[发明专利]一种芯样垂直度测量系统在审

专利信息
申请号: 202111439362.7 申请日: 2021-11-30
公开(公告)号: CN114383588A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 李德平;刘勇;王佩仪;杨兵;陈文辉;周禹熹;肖文林 申请(专利权)人: 深圳市勘察研究院有限公司
主分类号: G01C15/12 分类号: G01C15/12
代理公司: 北京盛联科创知识产权代理有限公司 11988 代理人: 张晓龙
地址: 518026 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 垂直 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种芯样垂直度测量系统,其特征在于,包括:

控制底座组件(100);

转盘组件(200),所述转盘组件(200)包括电动转盘(210)和多个夹紧件(220),所述电动转盘(210)固定连接于所述控制底座组件(100)上侧的一端,所述夹紧件(220)设置于所述电动转盘(210)上侧,多个所述夹紧件(220)沿所述电动转盘(210)上侧的周边均匀分布;

测量组件(300),所述测量组件(300)包括支架(310)、第一位移测量件(320)和第二位移测量件(330),所述支架(310)固定连接于所述控制底座组件(100)上侧,所述第一位移测量件(320)和所述第二位移测量件(330)分别设置于所述支架(310)上端和下端,所述第一位移测量件(320)和所述第二位移测量件(330)的端部对正。

2.根据权利要求1所述的芯样垂直度测量系统,其特征在于,所述控制底座组件(100)包括底座(110)和信息处理和控制设备(120),所述信息处理和控制设备(120)设置于所述底座(110)上侧远离所述电动转盘(210)一端,所述信息处理和控制设备(120)上设置有控制面板(130)。

3.根据权利要求2所述的芯样垂直度测量系统,其特征在于,所述信息处理和控制设备(120)内集成有扫码模块、位移记录模块、数据提取及计算模块、信息集成处理模块和指令模块。

4.根据权利要求2所述的芯样垂直度测量系统,其特征在于,所述底座(110)上侧远离所述电动转盘(210)一端固定连接有连接架(140),所述连接架(140)包括连接杆(141)和固定板(142),所述固定板(142)固定连接于所述连接杆(141)两端,所述连接杆(141)下端的所述固定板(142)固定连接于所述底座(110),所述信息处理和控制设备(120)固定连接于所述连接杆(141)上端的所述固定板(142)。

5.根据权利要求1所述的芯样垂直度测量系统,其特征在于,所述夹紧件(220)包括推杆部(221)和支撑座(222),所述推杆部(221)固定连接于所述支撑座(222)上侧,所述支撑座(222)固定连接于所述电动转盘(210)上侧。

6.根据权利要求5所述的芯样垂直度测量系统,其特征在于,所述推杆部(221)包括电动推杆(2211)和夹紧板(2212),所述夹紧板(2212)固定连接于所述电动推杆(2211)的输出端。

7.根据权利要求6所述的芯样垂直度测量系统,其特征在于,所述夹紧板(2212)一侧固定连接有缓冲垫(223)。

8.根据权利要求7所述的芯样垂直度测量系统,其特征在于,所述缓冲垫(223)远离所述夹紧板(2212)一侧均匀设置有防滑条(224)。

9.根据权利要求5所述的芯样垂直度测量系统,其特征在于,所述支撑座(222)包括支撑板(2221)和支撑杆(2222),所述支撑杆(2222)固定连接于所述支撑板(2221)下侧的周边。

10.根据权利要求1所述的芯样垂直度测量系统,其特征在于,所述电动转盘(210)下侧固定连接有支撑架(230),所述支撑架(230)固定连接于所述控制底座组件(100)上侧。

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