[发明专利]一种芯样垂直度测量系统

说明书

本申请实施例提供一种芯样垂直度测量系统，涉及芯样垂直度领域。芯样垂直度测量系统包括：控制底座组件、转盘组件和测量组件。芯样压缩位移传感器，产生初始位移，夹紧件夹紧固定住芯样，电动转盘带动芯样转动，记录第一位移测量件和第二位移测量件上下两点位移变化量（连续曲线），同一时刻两点位移差记为S，第一位移测量件和第二位移测量件之间间距记为L，通过公式：余切值=L/S（S取测量最大值），通过余切值换算成角度，进而判断垂直度。通过第一位移测量件和第二位移测量件检测外壁的偏差值，再计算出垂直度，减少人工手动测量，肉眼读数，人工耗时长，还效率低并且易出错的问题。

技术领域

本申请涉及芯样垂直度技术领域，具体而言，涉及一种芯样垂直度测量系统。

背景技术

芯样在抗压试验前，要对其进行垂直度及平整度的测量，传统测量方法是靠人工手动测量，肉眼读数，手工记录，不仅人工耗时长，还效率低，易出错，不便于准确的测量芯样垂直度的测量。

发明内容

本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种芯样垂直度测量系统，所述芯样垂直度测量系统可准确的测量芯样垂直度，减少人工手动测量，肉眼读数，人工耗时长，还效率低并且易出错的情况。

根据本申请实施例的芯样垂直度测量系统，包括：控制底座组件、转盘组件和测量组件。

所述转盘组件包括电动转盘和多个夹紧件，所述电动转盘固定连接于所述控制底座组件上侧的一端，所述夹紧件设置于所述电动转盘上侧，多个所述夹紧件沿所述电动转盘上侧的周边均匀分布，所述测量组件包括支架、第一位移测量件和第二位移测量件，所述支架固定连接于所述控制底座组件上侧，所述第一位移测量件和所述第二位移测量件分别设置于所述支架上端和下端，所述第一位移测量件和所述第二位移测量件的端部对正。

根据本申请的一些实施例，所述控制底座组件包括底座和信息处理和控制设备，所述信息处理和控制设备设置于所述底座上侧远离所述电动转盘一端，所述信息处理和控制设备上设置有控制面板。

根据本申请的一些实施例，所述信息处理和控制设备内集成有扫码模块、位移记录模块、数据提取及计算模块、信息集成处理模块和指令模块。

根据本申请的一些实施例，所述底座上侧远离所述电动转盘一端固定连接有连接架，所述连接架包括连接杆和固定板，所述固定板固定连接于所述连接杆两端，所述连接杆下端的所述固定板固定连接于所述底座，所述信息处理和控制设备固定连接于所述连接杆上端的所述固定板。

根据本申请的一些实施例，所述夹紧件包括推杆部和支撑座，所述推杆部固定连接于所述支撑座上侧，所述支撑座固定连接于所述电动转盘上侧。

根据本申请的一些实施例，所述推杆部包括电动推杆和夹紧板，所述夹紧板固定连接于所述电动推杆的输出端。

根据本申请的一些实施例，所述夹紧板一侧固定连接有缓冲垫。

根据本申请的一些实施例，所述缓冲垫远离所述夹紧板一侧均匀设置有防滑条。

根据本申请的一些实施例，所述支撑座包括支撑板和支撑杆，所述支撑杆固定连接于所述支撑板下侧的周边。

根据本申请的一些实施例，所述电动转盘下侧固定连接有支撑架，所述支撑架固定连接于所述控制底座组件上侧。