[发明专利]一种便于分析MLCC陶瓷晶粒的样品处理方法有效
| 申请号： | 202111430181.8 | 申请日： | 2021-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN113848105B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 黄翔;黄卫钢 | 申请（专利权）人： | 广东微容电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N1/32;G01N1/44 |
| 代理公司： | 深圳市国高专利代理事务所(普通合伙) 44731 | 代理人： | 陈冠豪 |
| 地址： | 527200 广东省云浮*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及MLCC陶瓷晶粒分析领域，公开了一种便于分析MLCC陶瓷晶粒的样品处理方法，用于分析陶瓷晶粒形貌及陶瓷烧结致密性，包括如下步骤：S1、准备设备：选用高带速运行最高可达180mm/min且升温速率最高可达到8000℃/h的快速烧结炉；S2、样品处理：沿样品的电极长轴或短轴方向切片；S3、样品升温：送样品进快速烧结炉并调节升温速率为3000~8000℃/min；S4、样品保温：在温度达到800~1300℃时保温1~60min；S5、样品降温：对完成S4步骤的样品进行降温，调节降温速率为3000~8000℃/min。通过上述方式，解决现有技术不容易分析陶瓷晶粒真实形貌及陶瓷烧结致密性的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 便于 分析 mlcc 陶瓷 晶粒 样品 处理 方法 | ||
【主权项】：
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