[发明专利]一种晶体管的测试电路及控制方法在审
| 申请号： | 202111420577.4 | 申请日： | 2021-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN114152855A | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 陈跃俊 | 申请（专利权）人： | 北京华峰测控技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人： | 韩登营 |
| 地址： | 100070 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请属于半导体测试领域，具体提供了一种晶体管的测试电路以及该电路的控制方法。其中，该晶体管的测试电路包括：由至少两条电源子支路并联组成的电源支路；由第一二极管和第一开关并联组成的开关支路；由第二二极管、电感和第四开关并联组成的保护支路；待测晶体管；以及第三二极管；其中，电源支路的正极端与开关支路的负极端连接；开关支路的正极端与保护电路的负极端连接；保护电路的正极端与待测晶体管的集电极连接；待测晶体管的发射极分别与电源支路的负极端、第三二极管的负极连接；第三二极管的正极与电源支路的负极端连接。基于本发明提供的技术方案，可以在不更换器件的情况下，快速实现在变母线电压的情况下对晶体管的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体管 测试 电路 控制 方法 | ||
【主权项】：
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