[发明专利]一种晶体管的测试电路及控制方法

权利要求书

1.一种晶体管的测试电路，其特征在于，包括：

由至少两条电源子支路并联组成的电源支路；

由第一二极管和第一开关并联组成的开关支路；

由第二二极管、电感和第四开关并联组成的保护支路；

待测晶体管；以及

第三二极管；

其中，所述电源支路的正极端与所述开关支路的负极端连接；所述开关支路的正极端与所述保护电路的负极端连接；所述保护电路的正极端与所述待测晶体管的集电极连接；所述待测晶体管的发射极分别与所述电源支路的负极端、所述第三二极管的负极连接；所述第三二极管的正极与所述电源支路的负极端连接。

2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电源子支路包括：

并联的电源和电容、以及控制所述并联的电源和电容通断的开关。

3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，还包括：

控制支路，用于控制所述电源支路、所述开关支路、所述保护支路、以及所述待测晶体管的通断；

其中，所述控制支路通过控制所述电源子支路中的开关来控制所述电源支路的通断；所述控制支路通过控制所述开关支路中的所述第一开关来控制所述开关支路的通断；所述控制支路通过控制所述保护支路中的所述第四开关来控制所述保护支路的通断；所述控制支路通过控制所述待测晶体管的栅极来控制所述待测晶体管的通断。

4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述控制支路还用于控制所述电源支路中电源的大小。

5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，还包括：

在所述至少两条电源子支路中，各电源子支路的电压不同。

6.一种测试电路的控制方法，所述测试电路包括权利要求1-5任一项所述的电路，其特征在于，所述控制方法包括：

控制电源支路中电压较低的电源子支路中的开关闭合、以及控制开关支路中的第一开关闭合；

当待测晶体管中集电极电流维持稳定且为0后，控制所述电源支路中电压较低的电源子支路中的开关断开、控制电源支路中电压较高的电源子支路中的开关闭合、以及控制保护支路中的第四开关闭合；

当所述待测晶体管中集电极电流再次维持稳定且为0后，控制所述电源支路中电压较高的电源子支路中的开关断开；

直到电路稳定后，控制所述开关支路中的第一开关和所述保护支路中的第四开关断开。