[发明专利]多通道射频芯片测试装置以及测试方法在审
| 申请号： | 202111404296.X | 申请日： | 2021-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN114355152A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 李健均;王雪;彭恒;杨昆明;王日炎 | 申请（专利权）人： | 广州润芯信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01S19/23 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人： | 郭昊辰 |
| 地址： | 510000 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种多通道射频芯片测试装置以及测试方法，该测试装置的信号输出单元、信号采集单元分别与信号处理单元、多通道射频芯片连接；信号处理单元通过多通道射频芯片的测试信息获取测试项目，根据测试项目排序控制信号输出单元向多通道射频芯片输出多路测试信号，接收信号采集单元采集的多通道射频芯片的输出信号，根据输出信号获取多通道射频芯片的并行测试结果，并在测试完成后记录所述并行测试结果并生成测试报告。本发明能够同时对多个通道进行并行测试，缩减了测试时间，测试效率高，并且不需要额外设置切换开关，简化了布线，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 通道 射频 芯片 测试 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
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