[发明专利]多通道射频芯片测试装置以及测试方法

权利要求书

1.一种多通道射频芯片测试装置，其特征在于，所述多通道射频芯片测试装置包括：信号处理单元、信号输出单元以及信号采集单元，所述信号输出单元、信号采集单元分别与信号处理单元、多通道射频芯片连接；

所述信号处理单元获取所述多通道射频芯片的测试信息，根据所述测试信息获取测试项目，根据所述测试项目排序控制所述信号输出单元依次向所述多通道射频芯片输出多路测试信号，接收所述信号采集单元采集的所述多通道射频芯片的输出信号，根据所述输出信号获取所述多通道射频芯片的并行测试结果，并在测试完成后记录所述并行测试结果并生成测试报告，所述多路测试信号中的测试信号与所述多通道射频芯片的测试通道一一对应，所述信号采集单元的信号采集通道数量与所述测试通道的数量相同。

2.如权利要求1所述的多通道射频芯片测试装置，其特征在于，所述信号输出单元包括信号源、功分器，所述功分器分别与所述信号源、多通道射频芯片连接，所述信号输出单元通过所述功分器将信号源输出的测试信号转换为输出多路测试信号。

3.如权利要求1所述的多通道射频芯片测试装置，其特征在于，所述信号采集单元包括模数转换器、信号组合单元，所述模数转换器分别与所述多通道射频芯片、信号组合单元连接，所述模数转换器采集所述测试通道输出的信号，将所述信号转换为数字信号输出给所述信号组合单元，所述信号组合单元对所述数字信号进行采样，并将组合后的采样信号传输给信号处理单元。

4.如权利要求3所述的多通道射频芯片测试装置，其特征在于，所述信号组合单元对所述数字信号进行采样，并将组合后的采样信号传输给信号处理单元的步骤具体包括：

所述信号组合单元根据所述多通道射频芯片的采样速率进行实时采集获取采样信号，并根据所述多通道射频芯片的引脚定义以及数据传输格式组合所述采样信号，将组合后的采样信号传输给信号处理单元。

5.如权利要求4所述的多通道射频芯片测试装置，其特征在于，所述根据所述输出信号获取所述多通道射频芯片的并行测试结果的步骤具体包括：

信号处理单元根据所述采样信号的传输格式将所述采样信号解析为对应通道的数据，并对所述数据进行时域到频域的转换，通过转换后的数据获取所述并行测试结果。

6.如权利要求3所述的多通道射频芯片测试装置，其特征在于，所述信号组合单元包括数字模块、FPGA模块，数字模块分别与所述模数转换器、FPGA模块连接，所述数字模块采集所述模数转换器传输的数字信号，并将所述数字信号传输给所述FPGA模块。

7.如权利要求1所述的多通道射频芯片测试装置，其特征在于，所述信号处理单元包括通信交互模块、驱动模块、数据处理模块、测试序列生成模块以及控制模块，所述控制模块分别与所述通信交互模块、驱动模块、数据处理模块、测试序列生成模块连接。

8.如权利要求1所述的多通道射频芯片测试装置，其特征在于，所述测试信息包括测试信号、测试条件、控制命令、测试描述及判断指标。

9.一种多通道射频芯片测试方法，其特征在于，所述多通道射频芯片测试方法应用于如权利要求1-8任一项所述的多通道射频芯片测试装置，所述多通道射频芯片测试方法包括：

S101：通过输入的测试信息获取测试项目；

S102：根据所述测试项目向多通道射频芯片发送多路测试信号，采集所述多通道射频芯片的输出信号，通过所述输出信号获取所述多通道射频芯片的并行测试结果，判断是否测试完成，若是，则执行S103，若否，则获取下一个测试项目，执行S102；

S103：记录测试数据并生成测试报告。