[发明专利]多通道射频芯片测试装置以及测试方法在审
| 申请号: | 202111404296.X | 申请日: | 2021-11-24 |
| 公开(公告)号: | CN114355152A | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
| 发明(设计)人: | 李健均;王雪;彭恒;杨昆明;王日炎 | 申请(专利权)人: | 广州润芯信息技术有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01S19/23 |
| 代理公司: | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 郭昊辰 |
| 地址: | 510000 广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 通道 射频 芯片 测试 装置 以及 方法 | ||
本发明提供一种多通道射频芯片测试装置以及测试方法,该测试装置的信号输出单元、信号采集单元分别与信号处理单元、多通道射频芯片连接;信号处理单元通过多通道射频芯片的测试信息获取测试项目,根据测试项目排序控制信号输出单元向多通道射频芯片输出多路测试信号,接收信号采集单元采集的多通道射频芯片的输出信号,根据输出信号获取多通道射频芯片的并行测试结果,并在测试完成后记录所述并行测试结果并生成测试报告。本发明能够同时对多个通道进行并行测试,缩减了测试时间,测试效率高,并且不需要额外设置切换开关,简化了布线,降低了测试成本。
技术领域
本发明涉及多通道射频芯片测试技术领域,尤其涉及一种多通道射频芯片测试装置以及测试方法。
背景技术
随着全球卫星导航的飞速发展,我国的“北斗”导航系统已完成全球范围内的部署和应用。目前导航系统已在防灾减灾、测绘、城市管理、交通运输、渔牧业、位置服务等各个不同领域有广泛应用。随着人们对导航系统更深入的研究和更多的应用场景的需求,现代导航接收机的通道集成度越来越高,如:多模多频高精度(多通道)接收机利用各个通道的测量值联合解算位置信息,可实现高精度实时动态差分定位、多通道测姿测相接收机利用接收到的导航信号到达多个天线之间的时间差、相位差等信息计算得到高精度二维姿态量信息,可解算载体的俯仰、航向等状态、多通道抗干扰接收机通过天线阵列与时域延时,利用干扰信号空间和能量特性,可实现对干扰信号消除抑制。而作为导航接收机的前端重要组成部分,多通道、高集成的射频芯片已经逐渐成为目前的主流发展趋势。
目前现有技术针对多通道射频芯片的测试方法主要以在多通道射频芯片前后增加可控单刀多掷切换开关进行每个通道串行测试为主,但该技术存在以下缺点:1、Loadboard(测试底板)设计中需要大量可控单刀多掷切换开关进行分时切换,需要额外开关控制单元和复杂的控制布线,操作复杂;2、串行多通道测试带来了测试成本的上升和测试效率的下降。
发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明提出一种多通道射频芯片测试装置以及测试方法,将待测试的多通道射频芯片分别与信号输出单元、信号采集单元连接,通过信号输出单元向多通道射频芯片输出多个测试信号以同时对多个通道进行测试,并利用信号采集单元采集通道的输出信号,通过信号处理单元对输出信号的处理获取并行测试结果,能够同时对多个通道进行并行测试,缩减了测试时间,测试效率高,并且不需要额外设置切换开关,简化了布线,降低了测试成本。
为解决上述问题,本发明采用的一个技术方案为:一种多通道射频芯片测试装置,所述多通道射频芯片测试装置包括:信号处理单元、信号输出单元以及信号采集单元,所述信号输出单元、信号采集单元分别与信号处理单元、多通道射频芯片连接;所述信号处理单元获取所述多通道射频芯片的测试信息,根据所述测试信息获取测试项目,根据所述测试项目排序控制所述信号输出单元依次向所述多通道射频芯片输出多路测试信号,接收所述信号采集单元采集的所述多通道射频芯片的输出信号,根据所述输出信号获取所述多通道射频芯片的并行测试结果,并在测试完成后记录所述并行测试结果并生成测试报告,所述多路测试信号中的测试信号与所述多通道射频芯片的测试通道一一对应,所述信号采集单元的信号采集通道数量与所述测试通道的数量相同。
进一步地,所述信号输出单元包括信号源、功分器,所述功分器分别与所述信号源、多通道射频芯片连接,所述信号输出单元通过所述功分器将信号源输出的测试信号转换为输出多路测试信号。
进一步地,所述信号采集单元包括模数转换器、信号组合单元,所述模数转换器分别与所述多通道射频芯片、信号组合单元连接,所述模数转换器采集所述测试通道输出的信号,将所述信号转换为数字信号输出给所述信号组合单元,所述信号组合单元对所述数字信号进行采样,并将组合后的采样信号传输给信号处理单元。
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