[发明专利]测试转接板以及测试装置在审
| 申请号： | 202111376587.2 | 申请日： | 2021-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN116148617A | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 李家宇;杨莉娟 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人： | 郭学秀 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种测试转接板以及测试装置，其中，测试转接板用于承载多个测试体且与多个测试体相配合进行测试，测试转接板包括：底座；底座包括配置区与配置区相邻的扩展区；插座，包括多个阵列排布的引脚孔，分布于所述底座上；位于所述配置区的一个或多个引脚孔构成第一引脚孔组，位于所述扩展区一个或多个引脚构成第二引脚孔组；连接线，连接第一引脚孔组和第二引脚孔组中相对应的引脚孔；与配置区的引脚孔对应的引脚，分立于配置区的引脚孔的下方。通过调整测试转接板上引脚孔的位置分布以及电性连接方式，使得测试转接板的插座能够承载并且与更多类型的测试体相配合使用，提高了测试装置的通用性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 转接 以及 装置 | ||
【主权项】：
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