[发明专利]缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202111371813.8 | 申请日： | 2021-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN114078118A | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 马政;江思程;王新江;张伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市商汤科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/12;G06T7/187;G06T7/73;G06K9/62;G06V10/764 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质，通过提取待检测图像中的待检测区域，将待检测区域划分为多个待检测图像块。分别对每个待检测图像块分别进行缺陷检测得到对应的缺陷检测结果，用于表征对应的待检测图像块中是否存在缺陷，最终根据每个缺陷检测结果确定图像检测结果。本公开实施例在进行缺陷检测时，通过提取待检测区域的方式将图像中干扰区域剔除，仅对需要检测的区域进行检测，提高了缺陷检测的精度。同时，还通过将待检测区域分割为多个待检测图像块分别检测的方式并行进行缺陷检测，提高了检测过程的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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