[发明专利]缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质

说明书

本公开涉及一种缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质，通过提取待检测图像中的待检测区域，将待检测区域划分为多个待检测图像块。分别对每个待检测图像块分别进行缺陷检测得到对应的缺陷检测结果，用于表征对应的待检测图像块中是否存在缺陷，最终根据每个缺陷检测结果确定图像检测结果。本公开实施例在进行缺陷检测时，通过提取待检测区域的方式将图像中干扰区域剔除，仅对需要检测的区域进行检测，提高了缺陷检测的精度。同时，还通过将待检测区域分割为多个待检测图像块分别检测的方式并行进行缺陷检测，提高了检测过程的效率。

技术领域

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及一种缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质。

背景技术

电池缺陷检测是计算机视觉以及工业视觉检测的重要问题。电池缺陷检测包括多种应用，例如顶盖焊缝检测，密封钉缺陷检测，电池极耳形变缺陷检测以及涂布表面检测等。由于电池上的结构比较复杂且缺陷往往较小，在缺陷检测时通常会发生误检或者漏检的情况。同时，由于电池检测时采集的图像通常为分辨率较高的工业图像，缺陷检测过程中计算量较大，检测速度较慢。

发明内容

本公开提出了一种缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质，旨在提高缺陷检测过程的效率，以及缺陷检测结果的准确程度。

根据本公开的第一方面，提供了一种缺陷检测方法，所述方法包括：

提取所述待检测图像中的待检测区域；

将所述待检测区域划分为多个待检测图像块；

对每个所述待检测图像块分别进行缺陷检测，得到每个所述待检测图像块对应的缺陷检测结果，所述缺陷检测结果用于表征对应的待检测图像块中是否存在缺陷；

根据每个所述缺陷检测结果确定图像检测结果。

在一种可能的实现方式中，所述提取所述待检测图像中的待检测区域包括：

对所述待检测图像进行边缘提取得到待检测区域。

在一种可能的实现方式中，所述对所述待检测图像进行边缘提取得到待检测区域包括：

通过对所述待检测图像进行二值化处理以及最大轮廓提取得到待检测区域。

在一种可能的实现方式中，所述将所述待检测区域划分为多个待检测图像块包括：

通过预设的滑动窗在所述待检测区域上滑动确定多个待检测图像块，所述滑动窗的宽度与所述待检测区域的宽度相同。

在一种可能的实现方式中，所述缺陷检测结果中包括位置属性和缺陷类别，所述位置属性用于表征所述缺陷检测结果对应的待检测图像块在所述待检测图像中的位置。

在一种可能的实现方式中，所述缺陷检测结果还包括每个所述缺陷类别的置信度，所述根据每个所述缺陷检测结果确定图像检测结果包括：

根据每个所述缺陷类别的置信度确定图像置信度，所述图像置信度用于表征所述待检测图像中存在缺陷的可能性；

根据所述图像置信度大于第一阈值的缺陷检测结果确定图像检测结果。

在一种可能的实现方式中，所述根据每个所述缺陷类别的置信度确定图像置信度包括：

确定目标缺陷类别的置信度为目标置信度；

响应于所述目标置信度小于第二阈值，根据所述目标缺陷类别以外的每个所述缺陷类别的置信度确定图像置信度；和/或，响应于所述目标置信度不小于第二阈值，确定图像置信度为0。

在一种可能的实现方式中，所述根据所述图像置信度大于第一阈值的缺陷检测结果确定图像检测结果包括：

确定所述图像置信度大于第一阈值的缺陷检测结果为目标检测结果；