[发明专利]缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

提取所述待检测图像中的待检测区域；

将所述待检测区域划分为多个待检测图像块；

对每个所述待检测图像块分别进行缺陷检测，得到每个所述待检测图像块对应的缺陷检测结果，所述缺陷检测结果用于表征对应的待检测图像块中是否存在缺陷；

根据每个所述缺陷检测结果确定图像检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述提取所述待检测图像中的待检测区域包括：

对所述待检测图像进行边缘提取得到待检测区域。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述待检测图像进行边缘提取得到待检测区域包括：

通过对所述待检测图像进行二值化处理以及最大轮廓提取得到待检测区域。

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述将所述待检测区域划分为多个待检测图像块包括：

通过预设的滑动窗在所述待检测区域上滑动确定多个待检测图像块，所述滑动窗的宽度与所述待检测区域的宽度相同。

5.根据权利要求1-4中任意一项所述的方法，其特征在于，所述缺陷检测结果中包括位置属性和缺陷类别，所述位置属性用于表征所述缺陷检测结果对应的待检测图像块在所述待检测图像中的位置。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述缺陷检测结果还包括每个所述缺陷类别的置信度，所述根据每个所述缺陷检测结果确定图像检测结果包括：

根据每个所述缺陷类别的置信度确定图像置信度，所述图像置信度用于表征所述待检测图像中存在缺陷的可能性；

根据所述图像置信度大于第一阈值的缺陷检测结果确定图像检测结果。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据每个所述缺陷类别的置信度确定图像置信度包括：

确定目标缺陷类别的置信度为目标置信度；

响应于所述目标置信度小于第二阈值，根据所述目标缺陷类别以外的每个所述缺陷类别的置信度确定图像置信度；和/或，响应于所述目标置信度不小于第二阈值，确定图像置信度为0。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述根据所述图像置信度大于第一阈值的缺陷检测结果确定图像检测结果包括：

确定所述图像置信度大于第一阈值的缺陷检测结果为目标检测结果；

确定所述目标检测结果中所述置信度最大的缺陷类别为目标类别；

根据每个所述目标检测结果中的位置属性和目标类别确定图像检测结果。

9.根据权利要求1-8中任意一项所述的方法，其特征在于，所述缺陷检测方法用于检测电池，所述待检测图像为电池图像，所述待检测区域为所述电池图像中的顶盖焊缝区域。

10.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括：

区域提取模块，用于提取所述待检测图像中的待检测区域；

图像划分模块，用于将所述待检测区域划分为多个待检测图像块；

缺陷检测模块，用于对每个所述待检测图像块分别进行缺陷检测，得到每个所述缺陷检测图像块对应的缺陷检测结果，所述缺陷检测结果用于表征对应的待检测图像块中是否存在缺陷；

结果确定模块，用于根据每个所述缺陷检测结果确定图像检测结果。

11.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为调用所述存储器存储的指令，以执行权利要求1至9中任意一项所述的方法。

12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，其特征在于，所述计算机程序指令被处理器执行时实现权利要求1至9中任意一项所述的方法。