[发明专利]一种Nand Flash颗粒功耗测试系统及方法在审
| 申请号： | 202111342713.2 | 申请日： | 2021-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN114121137A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 李栋 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 张琳琳 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供一种Nand Flash颗粒功耗测试系统及方法，用于对待测NandFlash芯片进行功耗测试，该系统包括测试板卡和测试主机，待测Nand Flash芯片的状态信号线连接测试板卡；测试主机用于根据当前功耗测试需求向测试板卡发送测试指令；测试板卡用于在接收到测试指令后，按照测试指令对待测Nand Flash芯片中的样本颗粒进行相应的测试；当测试板卡基于状态信号线确定待测Nand Flash芯片进入工作状态时，采集待测Nand Flash芯片在工作状态下的功耗数据。上述方案提供的系统使得到的功耗数据与待测Nand Flash颗粒的工作时间同步，从而保证了测得的Nand Flash功耗数据的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 nand flash 颗粒 功耗 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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