[发明专利]一种Nand Flash颗粒功耗测试系统及方法

权利要求书

1.一种Nand Flash颗粒功耗测试系统，用于对待测Nand Flash芯片进行功耗测试，其特征在于，所述系统包括：测试板卡和测试主机，所述待测Nand Flash芯片的状态信号线连接所述测试板卡；

所述测试主机用于根据当前功耗测试需求向所述测试板卡发送测试指令；

所述测试板卡用于在接收到所述测试指令后，按照所述测试指令对所述待测NandFlash芯片中的样本颗粒进行相应的测试；

当所述测试板卡基于所述状态信号线确定待测Nand Flash芯片进入工作状态时，采集所述待测Nand Flash芯片在工作状态下的功耗数据。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试板卡包括MCU，所述待测NandFlash芯片的状态信号线连接所述MCU的中继口；

当所述状态信号线由高电平变成低电平时，触发所述MCU进入待测Nand Flash芯片功耗数据采集状态。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试板卡中预存有随机数据样本，所述测试板卡具体用于：

当所述测试指令为写功耗测试指令时，将所述随机数据样本写入所述样本颗粒。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试主机还用于：

获取所述待测Nand Flash芯片在不同测试指令下的功耗数据；

分析所述功耗数据，以确定所述待测Nand Flash芯片在不同测试指令下的功耗峰值、功耗最小值和功耗平均值。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述测试主机还用于：

根据所述待测Nand Flash芯片在不同测试指令下的功耗数据，生成所述待测NandFlash芯片的功耗测试图表。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试主板包括：

数据转换器，用于将模拟信号形式下的功耗数据转换为对应的数字信号。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述测试主板还用于：

将数字信号形式下的功耗数据及对应的样本颗粒标识发送到所述测试主机。

8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试板卡包括：

供电控制模块，用于控制所述待测Nand Flash芯片的供电电压。

9.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试板卡承载所述待测Nand Flash芯片，所述测试板卡与所述待测Nand Flash芯片采用Socket建立通信连接，所述测试板卡与所述测试主机采用网线建立通信连接。

10.一种Nand Flash颗粒功耗测试方法，用于对待测Nand Flash芯片进行功耗测试，其特征在于，所述方法包括：

按照当前功耗测试需求，对待测Nand Flash芯片中的样本颗粒进行相应的测试；

当根据所述待测Nand Flash芯片的状态信号线的电平状态，确定待测Nand Flash芯片进入工作状态时，采集所述待测Nand Flash芯片在工作状态下的功耗数据。