[发明专利]一种Nand Flash颗粒功耗测试系统及方法

说明书

本申请提供一种Nand Flash颗粒功耗测试系统及方法，用于对待测NandFlash芯片进行功耗测试，该系统包括测试板卡和测试主机，待测Nand Flash芯片的状态信号线连接测试板卡；测试主机用于根据当前功耗测试需求向测试板卡发送测试指令；测试板卡用于在接收到测试指令后，按照测试指令对待测Nand Flash芯片中的样本颗粒进行相应的测试；当测试板卡基于状态信号线确定待测Nand Flash芯片进入工作状态时，采集待测Nand Flash芯片在工作状态下的功耗数据。上述方案提供的系统使得到的功耗数据与待测Nand Flash颗粒的工作时间同步，从而保证了测得的Nand Flash功耗数据的准确性。

技术领域

本申请涉及嵌入式硬件测试技术领域，尤其涉及一种Nand Flash颗粒功耗测试系统及方法。

背景技术

目前，固态硬盘(Solid State Disk，简称SSD)已经广泛应用到大型数据中心、服务器等领域，SSD中的存储介质现在广泛采用的是NandFlash。由于目前对SSD的容量及性能的要求较高，所以常常是多片或者整盘所有Nand Flash颗粒并行工作，因此为了避免数据突发时功耗太大造成SSD硬件重启或者对电路造成损伤，需要根据Nand Flash功耗数据，对SSD进行相应的电路设计。

针对Nand Flash功耗数据的检测，通常是利用电压电流表或者示波器，对待检测Nand Flash功耗进行手工测量。但由于人工测量存在一定的局限性，无法保证测得的NandFlash数据的准确性。

发明内容

本申请提供一种Nand Flash颗粒功耗测试系统及方法，以解决现有技术无法保证测得的Nand Flash功耗数据的准确性等缺陷。

本申请第一个方面提供一种Nand Flash颗粒功耗测试系统，用于对待测NandFlash芯片进行功耗测试，所述系统包括：测试板卡和测试主机，所述待测Nand Flash芯片的状态信号线连接所述测试板卡；

所述测试主机用于根据当前功耗测试需求向所述测试板卡发送测试指令；

所述测试板卡用于在接收到所述测试指令后，按照所述测试指令对所述待测NandFlash芯片中的样本颗粒进行相应的测试；

当所述测试板卡基于所述状态信号线确定待测Nand Flash芯片进入工作状态时，采集所述待测Nand Flash芯片在工作状态下的功耗数据。

可选的，所述测试板卡包括MCU，所述待测Nand Flash芯片的状态信号线连接所述MCU的中继口；

当所述状态信号线由高电平变成低电平时，触发所述MCU进入待测Nand Flash芯片功耗数据采集状态。

可选的，所述测试板卡中预存有随机数据样本，所述测试板卡具体用于：

当所述测试指令为写功耗测试指令时，将所述随机数据样本写入所述样本颗粒。

可选的，所述测试主机还用于：

获取所述待测Nand Flash芯片在不同测试指令下的功耗数据；

分析所述功耗数据，以确定所述待测Nand Flash芯片在不同测试指令下的功耗峰值、功耗最小值和功耗平均值。

可选的，所述测试主机还用于：

根据所述待测Nand Flash芯片在不同测试指令下的功耗数据，生成所述待测NandFlash芯片的功耗测试图表。

可选的，所述测试主板包括：

数据转换器，用于将模拟信号形式下的功耗数据转换为对应的数字信号。

可选的，所述测试主板还用于：