[发明专利]一种微针浮动测试工具及测试模组有效
| 申请号： | 202111342103.2 | 申请日： | 2021-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN114152783B | 公开（公告）日： | 2023-06-16 |
| 发明（设计）人： | 戴安泰;陆燕;吴振乾 | 申请（专利权）人： | 环维电子（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 林晓青 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种微针浮动测试工具及测试模组，测试工具包括：上盖组件；载板组件，上盖组件与载板组件压合或分离；载板组件从下至上依次包括固定板、PCB转接板、下针板、若干测试探针、上针板和芯片载板；上针板设置在固定板上，且上针板和固定板之间设置有若干复位弹簧，芯片载板的上表面设置有芯片槽，用于放置测试芯片，芯片载板上开设有探针孔，测试探针固定于下针板上，上盖组件和载板组件压合时，上针板和固定板接触，复位弹簧压缩，测试探针伸出芯片载板；上盖组件和载板组件分离时，上针板和固定板分离，复位弹簧复位，测试探针隐藏于探针孔内。该方案能够使芯片的取放更方便，且能够避免探针破孔，避免影响芯片的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 浮动 测试 工具 模组 | ||
【主权项】：
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