[发明专利]一种光电耦合器的筛选方法在审
| 申请号： | 202111310081.1 | 申请日： | 2021-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN114113961A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 高康;黄俊民;何丁财;孙凤义;董海昌 | 申请（专利权）人： | 珠海市大鹏电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 卢泽明 |
| 地址： | 519000 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开的一种光电耦合器的筛选方法，包括以下步骤：步骤S1，选取不同批次的光电耦合器产品；步骤S2，将选取的光电耦合器安装在测试台上，在20mA的电流条件下，通过重复多次的VF值测试，观察线性变化，对光电耦合器进行常规VF值测试；步骤S3，采用200mA大电流连续冲击200次；步骤S4，采用50mA和10mA的高低电流连续冲击；通过增加200mA电流冲击检验芯片损伤，以及增加10mA与50mA大小电流冲击下的VF值波动误差、来检测芯片损伤及键合线超声波键合虚焊问题，来筛选存在超声波键合焊接不稳定、导致红外发射芯片阻值变化大的不良品。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 耦合器 筛选 方法 | ||
【主权项】：
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