[发明专利]一种磁性芯片带检测功能的封装设备及其工作方法

摘要

一种磁性芯片带检测功能的封装设备及其工作方法，包括进料结构、封装结构、传送结构、检测结构、分料结构、不良品传送结构，所述分料结构包括推料结构、旋转结构。磁性芯片通过进料结构被传送至封装结构位置进行逐一封工作，封装好的芯片沿着传送结构被传送，在检测结构位置进行功能测试，测试合格的芯片沿着传送结构被继续传送，不合格的芯片则通过分料结构的分料作用下，沿着不良品传送结构被传送。其操作简单方便，对封装后的产品进行一一检测，从而大大提高了封装后磁性芯片的良品率，且避免了原有的抓取失误等情况下导致的意味损坏现象，降低了损耗。