[发明专利]半导体结构及其制备方法、三维存储器在审

专利信息
申请号: 202111283313.9 申请日: 2021-11-01
公开(公告)号: CN114121997A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 刘佳裔;高庭庭;孙昌志;杜小龙;刘小欣;夏志良 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11582 分类号: H01L27/11582;H01L27/1157;H01L27/11556;H01L27/11524
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 430000 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本公开提供了一种半导体结构及其制备方法、三维存储器,涉及半导体芯片技术领域,以降低RC延迟,减小功耗。该半导体结构包括衬底,存储堆叠层设置于衬底上,存储堆叠层包括交替设置的多层第一栅导电层和多层电介质层;多层第一栅导电层依次包括至少一层字线层和至少一层顶部选择栅,第一沟道孔贯穿至少一层顶部选择栅,第二栅导电层设置于第一沟道孔内,第一沟道结构设置于第一沟道孔内,第一沟道结构包括覆盖第一沟道孔的侧壁的第二栅导电层、覆盖第二栅导电层的栅介质层和覆盖栅介质层的第一沟道层,第二栅导电层与顶部选择栅连接。上述半导体结构应用于三维存储器中,以实现数据的读取和写入操作。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制备 方法 三维 存储器
【主权项】:
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