[发明专利]一种FPGA中LUT6的编程测试方法在审
| 申请号： | 202111282589.5 | 申请日： | 2021-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN113985262A | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 刘铮;张超 | 申请（专利权）人： | 山东芯慧微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 南京行高知识产权代理有限公司 32404 | 代理人： | 李晓 |
| 地址： | 250102 山东省济南市历城区高*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种FPGA中LUT6的编程测试方法，属于现场可编程门阵列（中的LUT6的测试技术领域。该方法执行如下步骤：1）LUT6逻辑资源功能设计；2）LUT6输入向量设计；3）确定测试程序变量N；4）通过编程自动生成LUT6测试程序；5）将自动生成的LUT6测试程序通过编程自动移植到LUT6测试工具中；6）进行测试仿真；7）将LUT6测试程序写入FPGA中并进行数据读取；8）比对仿真数据与FPGA中的读取数据；9）确定测试结果。本发明全覆盖LUT6模块，提高了测试效率；采用在线编程的方式，解决了传统的测试多次例化Verilog的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fpga lut6 编程 测试 方法 | ||
【主权项】：
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