[发明专利]一种FPGA中LUT6的编程测试方法在审
| 申请号： | 202111282589.5 | 申请日： | 2021-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN113985262A | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 刘铮;张超 | 申请（专利权）人： | 山东芯慧微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 南京行高知识产权代理有限公司 32404 | 代理人： | 李晓 |
| 地址： | 250102 山东省济南市历城区高*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 fpga lut6 编程 测试 方法 | ||
1.一种FPGA中LUT6的编程测试方法，其特征在于执行如下步骤：
1）LUT6逻辑资源功能设计；
2）LUT6输入向量设计；
3）确定测试程序变量N；
4）通过编程自动生成LUT6测试程序；
5）将自动生成的LUT6测试程序通过编程自动移植到LUT6测试工具中；
6）进行测试仿真；
7）将LUT6测试程序写入FPGA中并进行数据读取；
8）比对仿真数据与FPGA中的读取数据；
9）确定测试结果，预期结果与读取结果比对，若一致，则通过测试；若不一致，则测试不通过；
所述LUT6测试程序包括两组功能电路，a将被测试的全部的LUT6模块配置为64位2进制输入的结构，输入的时候再将64位2进制变更为16进制进行展示；b将被测试的全部的LUT6模块配置为上一电路的64位2进制数据取反输入的结构，同样，输入的时候将64位2进制变更为16进制进行展示；各LUT6模块的内部，输入向量为I0、I1、I2、I3、I4、I5, I5为上一LUT6模块的输出。
2.根据权利要求1所述的一种FPGA中LUT6的编程测试方法，其特征在于：各LUT6模块的内部，LUT6的输出全部通过可编程逻辑触发器进行寄存，寄存后的输出通过内部通道级联到下一级LUT6的I5端口上，最后一个LUT6的输出连接到模块外部。
3.根据权利要求1所述的一种FPGA中LUT6的编程测试方法，其特征在于：通过ModelSim行为级仿真获取预期结果。
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