[发明专利]一种射频测试探针结构以及射频测试系统有效
| 申请号： | 202111278519.2 | 申请日： | 2021-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN114217101B | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | 刘东平;翟巍;江成 | 申请（专利权）人： | 荣耀终端有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 518040 广东省深圳市福田区香蜜湖街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种射频测试探针结构以及射频测试系统，涉及射频测试技术领域，该射频测试探针结构包括：外壳、介质、第一测试针和第二测试针。其中，介质设置于外壳内，外壳由导电材质构成，第一测试针设置于介质内，第一测试针与介质同轴；第二测试针设置于外壳上，第一测试针的测试端和第二测试针的测试端位于外壳的同一端。第一测试针和第二测试针之间设置有阻抗适配结构，阻抗适配结构至少包括补偿结构或者同轴结构。通过设置补偿结构和/或同轴结构，使第一测试针与第二测试针之间的阻抗接近或者等于射频传输线的阻抗，使得探针结构在射频测试过程中具有更好的阻抗匹配。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 测试 探针 结构 以及 系统 | ||
【主权项】：
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