[发明专利]天线测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 202111252434.7 | 申请日： | 2021-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN116032381A | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 陈胜;丁天伦;卫盟;张玮;王岩;谢晶;苏雪嫣;李远付;赵云璋;庞净;曲峰;车春城;张志锋;李必奇 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方传感技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H01Q1/22;H01Q1/36;H01Q19/12;H01Q15/16 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉;阚梓瑄 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种天线测试系统及测试方法，涉及天线技术领域。该测试系统包括电压加载装置，所述电压加载装置的输出端用于与相控阵天线的输入端连接；场测试系统，所述场测试系统用于测试所述相控阵天线的天线参数；计算机设备，所述计算机设备的输出端与所述电压加载装置连接，所述计算机设备的输入端与所述场测试系统连接。本公开实时方式中，可通过该测试系统预先测试该相控阵天线在辐射波束时天线性能最接近参考天线参数时对应的目标加载电压，由于测试的目标加载电压是结合场测试系统进行实际测试得到的，从而能够保证测试的目标加载电压的精确度，进而在后续使用该相控阵天线时保证了该相控阵天线的天线性能。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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