[发明专利]天线测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种天线测试系统，其特征在于，包括：

电压加载装置，所述电压加载装置的输出端用于与相控阵天线的输入端连接；

场测试系统，所述场测试系统用于测试所述相控阵天线的天线参数；

计算机设备，所述计算机设备的输出端与所述电压加载装置连接，所述计算机设备的输入端与所述场测试系统连接；

所述计算机设备用于依次输出当前次的多组加载电压至所述电压加载装置，以获取所述场测试系统测得的所述相控阵天线分别在所述当前次的多组加载电压激励下的多个天线参数，所述计算机设备还用于将所述多个天线参数中与参考天线参数的差值最小的一者作为当前最优天线参数，并将所述当前最优天线参数和前一次的最优天线参数中与所述参考天线参数的差值较小的一者作为当前次的最优天线参数，且当所述当前次的最优天线参数与参考天线参数之间的差值小于或等于比对阈值，或者当前次的次数达到次数阈值时，将当前次的最优天线参数对应的一组加载电压确定为所述相控阵天线的一组目标加载电压。

2.如权利要求1所述的天线测试系统，其特征在于，所述相控阵天线包括液晶相控阵天线，所述电压加载装置的输出端用于与所述液晶相控阵天线的馈电端连接。

3.如权利要求1所述的天线测试系统，其特征在于，所述相控阵天线包括天线本体和与所述天线本体的馈电端连接的移相器，所述电压加载装置的输出端用于与所述移相器的输入端连接。

4.如权利要求1-3任一所述的天线测试系统，其特征在于，所述场测试系统为紧缩场测试系统。

5.如权利要求4所述的天线测试系统，其特征在于，所述紧缩场测试系统包括暗室、馈源天线、反射面、载台和测试接收机；

所述馈源天线、所述反射面、所述载台均位于所述暗室内，所述馈源天线位于所述反射面的焦点处，所述反射面用于接收所述馈源天线发出的球面波，并经反射后产生准平面波；

所述载台用于固定所述相控阵天线，所述相控阵天线用于接收所述准平面波；

所述测试接收机的输入端与所述相控阵天线连接，所述测试接收机的输出端与所述计算机设备的输入端连接。

6.一种天线测试方法，其特征在于，包括：

获取当前次的多组更新参数；

根据所述当前次的多组更新参数对前一次的多组加载电压包括的多个加载电压分别进行对应更新，得到当前次的多组加载电压；

根据所述当前次的多组加载电压确定相控阵天线的当前全局最优天线参数和对应的一组当前最优加载电压；

从所述当前全局最优天线参数和前一次的全局最优天线参数中确定当前次的全局最优天线参数，并从前一次的一组最优加载电压和所述一组当前最优加载电压中选择得到与所述当前次的全局最优天线参数对应的当前次的一组最优加载电压；

若所述当前次的全局最优天线参数与参考天线参数之间的差值小于或等于比对阈值，或者当前次的次数达到次数阈值，则将所述当前次的一组最优加载电压确定为所述相控阵天线的一组目标加载电压。