[发明专利]天线测试系统及测试方法

说明书

本公开提供了一种天线测试系统及测试方法，涉及天线技术领域。该测试系统包括电压加载装置，所述电压加载装置的输出端用于与相控阵天线的输入端连接；场测试系统，所述场测试系统用于测试所述相控阵天线的天线参数；计算机设备，所述计算机设备的输出端与所述电压加载装置连接，所述计算机设备的输入端与所述场测试系统连接。本公开实时方式中，可通过该测试系统预先测试该相控阵天线在辐射波束时天线性能最接近参考天线参数时对应的目标加载电压，由于测试的目标加载电压是结合场测试系统进行实际测试得到的，从而能够保证测试的目标加载电压的精确度，进而在后续使用该相控阵天线时保证了该相控阵天线的天线性能。

背景技术

相控阵天线是指通过控制阵列天线中辐射单元的馈电相位来改变方向图形状的天线。如此，可通过控制馈电相位来改变相控阵天线的波束辐射方向，以实现波束扫描的目的。

以相控阵天线应用于电子设备为例，在使用电子设备通讯时，电子设备的位置可能会发生变化，如此，相控阵天线的辐射波束的波束方向也需要相应的改变，以保证通讯质量。而部分用户在使用电子设备进行通讯时，发现通讯质量并不理想。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开提供了一种天线测试系统及测试方法，能够保证相控阵天线工作时的天线性能，进而保证电子设备通讯时的通讯质量。

根据本公开的第一方面，提供了一种天线测试系统，包括：

电压加载装置，所述电压加载装置的输出端用于与相控阵天线的输入端连接；

场测试系统，所述场测试系统用于测试所述相控阵天线的天线参数；

计算机设备，所述计算机设备的输出端与所述电压加载装置连接，所述计算机设备的输入端与所述场测试系统连接；

所述计算机设备用于依次输出当前次的多组加载电压至所述电压加载装置，以获取所述场测试系统测得的所述相控阵天线分别在所述当前次的多组加载电压激励下的多个天线参数，所述计算机设备还用于将所述多个天线参数中与参考天线参数的差值最小的一者作为当前最优天线参数，并将所述当前最优天线参数和前一次的最优天线参数中与所述参考天线参数的差值较小的一者作为当前次的最优天线参数，且当所述当前次的最优天线参数与参考天线参数之间的差值小于或等于比对阈值，或者当前次的次数达到次数阈值时，将当前次的最优天线参数对应的一组加载电压确定为一组目标加载电压。

根据本公开一实施方式的天线测试系统，所述相控阵天线包括液晶相控阵天线，所述电压加载装置的输出端用于与所述液晶相控阵天线的馈电端连接。

根据本公开一实施方式的天线测试系统，所述相控阵天线包括天线本体和与所述天线本体的馈电端连接的移相器，所述电压加载装置的输出端用于与所述移相器的输入端连接。

根据本公开一实施方式的天线测试系统，所述场测试系统为紧缩场测试系统。

根据本公开一实施方式的天线测试系统，所述紧缩场测试系统包括暗室、馈源天线、反射面、载台和测试接收机；

所述馈源天线、所述反射面、所述载台均位于所述暗室内，所述馈源天线位于所述反射面的焦点处，所述反射面用于接收所述馈源天线发出的球面波，并经反射后产生准平面波；

所述载台用于固定所述相控阵天线，所述相控阵天线用于接收所述准平面波；

所述测试接收机的输入端与所述相控阵天线连接，所述测试接收机的输出端与所述计算机设备的输入端连接。

根据本公开的第二方面，提供了一种天线测试方法，包括：

获取当前次的多组更新参数；