[发明专利]一种兼容多种类型芯片的测试系统及方法在审
| 申请号： | 202111188374.7 | 申请日： | 2021-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN114047426A | 公开（公告）日： | 2022-02-15 |
| 发明（设计）人： | 冯建超;傅焰峰;严杰 | 申请（专利权）人： | 武汉光谷信息光电子创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 崔晓岚;张颖玲 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种兼容多种类型芯片的测试系统及方法，所述系统包括上位机、与所述上位机进行数据通信的控制板、以及与所述控制板连接的测试板；所述测试板设置在老化试验箱内；所述测试板包括至少一个待测试芯片；所述上位机，用于确定所述待测试芯片的类型，发送携带有所述类型的芯片老化指令至所述控制板；所述控制板，用于根据所述芯片老化指令中包含的所述类型，确定可调电源的通道，以接入电源与所述类型匹配的目标电源；基于所述目标电源为所述待测试芯片输入预设电信号；根据所述预设电信号监测所述待测试芯片输出的电压数据和/或电流数据，基于所述电压数据和/或电流数据获得所述待测试芯片的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 兼容 多种 类型 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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