[发明专利]一种兼容多种类型芯片的测试系统及方法

权利要求书

1.一种兼容多种类型芯片的测试系统，其特征在于，所述系统包括上位机、与所述上位机进行数据通信的控制板、以及与所述控制板连接的测试板；所述测试板设置在老化试验箱内；所述测试板包括至少一个待测试芯片；

所述上位机，用于确定所述待测试芯片的类型，发送携带有所述类型的芯片老化指令至所述控制板；

所述控制板，用于根据所述芯片老化指令中包含的所述类型，确定可调电源的通道，以接入电源与所述类型匹配的目标电源；基于所述目标电源为所述待测试芯片输入预设电信号；根据所述预设电信号监测所述待测试芯片输出的电压数据和/或电流数据，基于所述电压数据和/或电流数据获得所述待测试芯片的测试结果。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制板包括控制模块和可调电源模块；所述控制模块分别与所述上位机和所述可调电源模块连接；所述可调电源模块与所述测试板连接；

所述控制模块，用于解析所述芯片老化指令，获得对所述待测试芯片施加的电信号参数；

所述可调电源模块，用于基于所述电信号参数控制可调电源的通道，以接入电源与所述类型匹配的目标电源；基于所述目标电源为所述待测试芯片输入预设电信号。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述可调电源模块包括多个可调电压源组件、多个可调电流源组件和第一模拟数字转换ADC组件；其中，

所述可调电压源组件，用于基于所述电信号参数控制可调电压源的通道，以接入电压源与所述类型匹配的目标电压源；基于所述目标电压源为所述待测试芯片输入预设电压信号；

所述可调电流源组件，用于基于所述电信号参数控制可调电流源的通道，以接入电流源与所述类型匹配的目标电流源；基于所述目标电流源为所述待测试芯片输入预设电流信号；

所述第一ADC组件，用于采集所述目标电压源输出的第一功率数据和所述目标电流源的第二功率数据，并将所述第一功率数据和所述第二功率数据传输至所述控制模块。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述可调电压源组件包括电压源芯片、可调电阻和第一采样电阻；所述电压源芯片分别与所述可调电阻和第一采样电阻连接；所述第一采样电阻与所述第一ADC组件连接；其中，

所述可调电阻，用于基于所述电信号参数调节自身的电阻值，以使所述电压源芯片为所述待测试芯片的电压管脚输入预设电压信号；

所述第一采样电阻，用于将所述预设电压信号进行第一处理，获得所述第一功率数据。

5.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述可调电流源模块包括电流源芯片和第二采样电阻；所述电流源芯片与所述第二采样电阻连接；所述第二采样电阻与所述第一ADC组件连接；其中，

所述电流源芯片，用于基于所述电信号参数控制自身为所述待测试芯片的电流管脚输入预设电流信号；

所述第二采样电阻，用于将所述预设电流信号进行第二处理，获得所述第二功率数据。

6.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述控制板还包括信号采集模块；所述信号采集模块分别与所述控制模块和所述测试板连接；

所述信号采集模块，用于实时监测所述待测试芯片输出的电压数据和/或电流数据。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述信号采集模块包括多个电压管脚切换组件、多个电流管脚切换组件、运算放大组件、第二模拟数字转换ADC组件；

所述电压管脚切换组件，用于切换与所述待测试芯片监测管脚匹配的电压管脚，采集所述待测试芯片的测试电压；

所述电流管脚切换组件，用于切换与所述待测试芯片监测管脚匹配的电流管脚，采集所述待测试芯片的测试电流；

所述运算放大组件，用于对所述测试电压和所述测试电流进行放大；

所述第二模拟数字转换ADC组件，用于采集放大后的测试电压和测试电流，并传输至所述控制模块。