[发明专利]一种兼容多种类型芯片的测试系统及方法

说明书

本发明提供一种兼容多种类型芯片的测试系统及方法，所述系统包括上位机、与所述上位机进行数据通信的控制板、以及与所述控制板连接的测试板；所述测试板设置在老化试验箱内；所述测试板包括至少一个待测试芯片；所述上位机，用于确定所述待测试芯片的类型，发送携带有所述类型的芯片老化指令至所述控制板；所述控制板，用于根据所述芯片老化指令中包含的所述类型，确定可调电源的通道，以接入电源与所述类型匹配的目标电源；基于所述目标电源为所述待测试芯片输入预设电信号；根据所述预设电信号监测所述待测试芯片输出的电压数据和/或电流数据，基于所述电压数据和/或电流数据获得所述待测试芯片的测试结果。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种兼容多种类型芯片的测试系统及方法。

背景技术

芯片的可靠性老化测试是评估芯片特性的重要环节。其可靠性测试的效果直接关系到芯片寿命评判。芯片的可靠性老化测试，一般是将芯片带电运行于不同老化环境下，通过周期监测芯片性能的变化，来反映芯片的特性。而对芯片管脚加电大体上分为三种类型：对芯片管脚施加特定值的直流电流、直流电压；对芯片管脚施加周期信号(正弦波、方波、三角波)。而对芯片管脚的监测一般包括对芯片管脚的输出电流、电压进行实时监测。

在电子技术日益发达的今天，芯片种类和数量众多，其更新迭代速度快。同一用途的芯片，种类繁多，其管脚的数量以及管脚的排列顺序千差万别。例如运算放大芯片，可能因为运放数量的不同(例如单运放、双运放、四路运放芯片)，或者不同的封装结构(dip，sop等封装)，甚至生产厂家的不同，其芯片的加电老化就差异很大。因此使得芯片老化测试中，针对不同的芯片，就需要独立设计一套自动化加电老化测试系统。其自动化系统缺乏普适性，并造成人力、物力等资源极大的浪费。针对该问题，目前尚无有效解决方案。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例期望提供一种兼容多种类型芯片的测试系统及方法。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

第一方面，本发明实施例提供一种兼容多种类型芯片的测试系统，所述系统包括上位机、与所述上位机进行数据通信的控制板、以及与所述控制板连接的测试板；所述测试板设置在老化试验箱内；所述测试板包括至少一个待测试芯片；

所述上位机，用于确定所述待测试芯片的类型，发送携带有所述类型的芯片老化指令至所述控制板；

所述控制板，用于根据所述芯片老化指令中包含的所述类型，确定可调电源的通道，以接入电源与所述类型匹配的目标电源；基于所述目标电源为所述待测试芯片输入预设电信号；根据所述预设电信号监测所述待测试芯片输出的电压数据和/或电流数据，基于所述电压数据和/或电流数据获得所述待测试芯片的测试结果。

在本发明的一些实施例中，所述控制板包括控制模块和可调电源模块；所述控制模块分别与所述上位机和所述可调电源模块连接；所述可调电源模块与所述测试板连接；

所述控制模块，用于解析所述芯片老化指令，获得对所述待测试芯片施加的电信号参数；

所述可调电源模块，用于基于所述电信号参数控制可调电源的通道，以接入电源与所述类型匹配的目标电源；基于所述目标电源为所述待测试芯片输入预设电信号。

在本发明的一些实施例中，所述可调电源模块包括多个可调电压源组件、多个可调电流源组件和第一模拟数字转换ADC组件；其中，

所述可调电压源组件，用于基于所述电信号参数控制可调电压源的通道，以接入电压源与所述类型匹配的目标电压源；基于所述目标电压源为所述待测试芯片输入预设电压信号；

所述可调电流源组件，用于基于所述电信号参数控制可调电流源的通道，以接入电流源与所述类型匹配的目标电流源；基于所述目标电流源为所述待测试芯片输入预设电流信号；