[发明专利]紧缩场馈源偏焦量化值的确定方法及装置在审

专利信息
申请号: 202111114253.8 申请日: 2021-09-23
公开(公告)号: CN113834975A 公开(公告)日: 2021-12-24
发明(设计)人: 姜涌泉;莫崇江 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 王文雅
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种紧缩场馈源偏焦量化值的确定方法及装置,其中方法包括:确定反射面的类型;根据确定的该类型,确定馈源相位中心未偏焦时,该馈源发射的电磁波所对应未偏焦路径的第一绝对相位;根据确定的该类型,确定馈源相位中心偏焦时,该馈源发射的电磁波所对应偏焦路径的第二绝对相位;将所述第一绝对相位与所述第二绝对相位的差值,确定为紧缩场馈源偏焦量化值。本方案,能够快速得到紧缩场馈源偏焦量化值,提高了计算时效性。
搜索关键词: 紧缩 馈源 量化 确定 方法 装置
【主权项】:
暂无信息
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