[发明专利]紧缩场馈源偏焦量化值的确定方法及装置在审
申请号: | 202111114253.8 | 申请日: | 2021-09-23 |
公开(公告)号: | CN113834975A | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
发明(设计)人: | 姜涌泉;莫崇江 | 申请(专利权)人: | 北京环境特性研究所 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人: | 王文雅 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种紧缩场馈源偏焦量化值的确定方法及装置,其中方法包括:确定反射面的类型;根据确定的该类型,确定馈源相位中心未偏焦时,该馈源发射的电磁波所对应未偏焦路径的第一绝对相位;根据确定的该类型,确定馈源相位中心偏焦时,该馈源发射的电磁波所对应偏焦路径的第二绝对相位;将所述第一绝对相位与所述第二绝对相位的差值,确定为紧缩场馈源偏焦量化值。本方案,能够快速得到紧缩场馈源偏焦量化值,提高了计算时效性。 | ||
搜索关键词: | 紧缩 馈源 量化 确定 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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