[发明专利]一种非接触智能卡健壮性测试的装置在审

专利信息
申请号: 202111060288.8 申请日: 2021-09-10
公开(公告)号: CN113759235A 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 张磊 申请(专利权)人: 北京中电华大电子设计有限责任公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102209 北京市昌平区北七家镇未*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种采用PVC材质实现非接触智能卡规范化测试的实现装置,属于非接触智能卡测试及健壮性评估的一种装置。这种用于非接触智能卡健壮性测试辅助的装置,主要有PVC材质构成,附以结构设计满足健壮性协议测试规格的高精度测试装置。其特点是:装置采用PVC材质构成、按协议规定进行高精度定位。如此设计既满足智能卡测试的绝缘性硬性要求又能实现测试的标准化和高精度化。不仅使测试非接触智能卡时操作规范便捷,而且测试装置可以满足非接触标准协议规定的Class 1,Class 2,Class 3,Class 4,Class 5,Class 6任意规格以及异形线圈的智能卡测试,操作简单快捷。
搜索关键词: 一种 接触 智能卡 健壮性 测试 装置
【主权项】:
暂无信息
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