[发明专利]一种非接触智能卡健壮性测试的装置在审
| 申请号: | 202111060288.8 | 申请日: | 2021-09-10 | 
| 公开(公告)号: | CN113759235A | 公开(公告)日: | 2021-12-07 | 
| 发明(设计)人: | 张磊 | 申请(专利权)人: | 北京中电华大电子设计有限责任公司 | 
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 | 
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 | 
| 地址: | 102209 北京市昌平区北七家镇未*** | 国省代码: | 北京;11 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 接触 智能卡 健壮性 测试 装置 | ||
本发明公开了一种采用PVC材质实现非接触智能卡规范化测试的实现装置,属于非接触智能卡测试及健壮性评估的一种装置。这种用于非接触智能卡健壮性测试辅助的装置,主要有PVC材质构成,附以结构设计满足健壮性协议测试规格的高精度测试装置。其特点是:装置采用PVC材质构成、按协议规定进行高精度定位。如此设计既满足智能卡测试的绝缘性硬性要求又能实现测试的标准化和高精度化。不仅使测试非接触智能卡时操作规范便捷,而且测试装置可以满足非接触标准协议规定的Class 1,Class 2,Class 3,Class 4,Class 5,Class 6任意规格以及异形线圈的智能卡测试,操作简单快捷。
技术领域
本发明涉及非接触智能卡健壮性测试领域,特别是非接触智能卡健壮性测试的规范化装置。
背景技术
随着非接触智能卡的普及和广泛应用,非接触智能卡的健壮性也日益得到人们的关注,其智能卡的健壮性能直接影响到智能卡的整体性能指标,对智能卡的推广及实际应用影响重大,由此可靠性的规范化测试也变得尤为重要。
目前的可靠性测试均是采用一种静电枪的模糊测试甚至是盲测,其健壮性测试数据无法追溯、一些测试数据无法进行横向竞卡对比,同批次智能卡的测试数据,更换测试员之后其测试结果又会有所变动。由此对芯片设计造成一定的困扰。
本发明内容
针对非接触智能样卡的可靠性测试不规范性,本发明提出了一种非接触智能样卡健壮性测试的规范化辅助设备。使用本发明可以更加规范化准确性的测试健壮性。
本发明采用PVC材质构成,其包含底板,测试智能卡凹槽,测试区均分表格,测试孔4部分构成。
底板,包含但不仅限于PVC材质构成,其玻璃纤维板,亚克力板,木质板,纸质板等一切非金属材质或一切对电磁场无影响的材质均包含在内。
测试智能卡凹槽,适用智能卡类型不仅限于CLASS 1类智能卡,其Class 2,Class3,Class 4,Class 5,Class 6类智能卡均包含在内,凹槽依据CLASS1~6类智能卡规范开具,不仅限于CLASS 1类智能卡的圆角矩形。
测试区均分表格,对CLASS1~6类智能卡凹槽的均分,依据ISO 10373协议及IEC61000协议等在智能卡表面均等分,深度以智能卡厚度为准。
测试孔,位置位于每个表格的正中心,孔距以无影响测试设备的最小孔距为准。
本发明对实测智能卡的测试点做了明确的规范和限制,不仅对健壮性测试做了规范而且在最根本上避免的测试的误操作,使测试更加简单、规范,行之有效。
附图说明
图1是本发明CLASS 1类卡结构示意图。
具体实施方式
参照附图1设计如下:采用PVC材质构成且分别依据Class 1,Class 2,Class 3,Class 4,Class 5,Class 6共6类智能卡进行磨具开孔。附图1为CLASS 1类智能卡为例本发明的装置。,其中101是以矩形PVC板为磨具底板,102是圆角矩型凹拖为智能卡凹槽,深度以智能卡厚度为准,103是其内部4行5列表格为对智能卡凹槽的均分,CLASS 1类卡表格行高1.37cm、列宽1.72cm。104是内部圆孔为通透孔即:测试孔,孔距0.8cm以不影响健壮性测试的最小孔距为基准调节,位置位于每个表格的正中心,Class 2,Class 3,Class 4,Class5,Class 6类智能卡测试装置以此类推。
将待测试智能卡放置在对应的测试装置内,将装置连同智能卡一起放置在等地金属台面,使用健壮性测试设备(如:静电枪),对准测试装置中的测试孔,依据不同的测试规范给于不同的测试,汇总测试数据得出不同级别的静电影响及健壮性性能。
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