[发明专利]一种非接触智能卡健壮性测试的装置在审

专利信息
申请号: 202111060288.8 申请日: 2021-09-10
公开(公告)号: CN113759235A 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 张磊 申请(专利权)人: 北京中电华大电子设计有限责任公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102209 北京市昌平区北七家镇未*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 接触 智能卡 健壮性 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种非接智能卡健壮性测试的装置,其特征在于,包括底板、智能卡凹槽、测试区均分表格、测试孔,其中智能卡凹槽是在底板中间依据智能卡的标准尺寸开凹槽,智能卡凹槽深度等于智能卡厚度;底板的厚度大于智能卡厚度,智能卡凹槽依据ISO 10373协议及IEC61000协议在智能卡表面均等分形成测试区均分表格,在测试区均分表格中每个区域正中心开孔为测试孔,通过测试孔实现健壮性测试。

2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述的智能卡为CLASS 1类智能卡时,底板内开有圆角矩型的智能卡凹槽,深度以智能卡厚度为准,对智能卡凹槽按4行5列均分成测试区均分表格,测试区均分表格中每个区域行高1.37cm、列宽1.72cm;测试孔位于表格中每个区域的正中心,测试孔以不影响健壮性测试的最小尺寸为基准。

3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述测试孔形状不限,最优的为直径0.8cm的圆孔。

4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述底板采用PVC材质,包含但不仅限于PVC材质,玻璃纤维板、亚克力板、木质板、纸质板一切非金属材质或一切对电磁场无影响的材质。

5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述适用智能卡类型包括CLASS 1但不仅限于Class 1类智能卡,Class 2,Class 3,Class 4,Class 5,Class 6类标准智能卡类型均包含在内。

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