[发明专利]一种集成电路测试用的样品随机抽取设备在审
| 申请号： | 202111044799.0 | 申请日： | 2021-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN113848084A | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 蔡文敢 | 申请（专利权）人： | 蔡文敢 |
| 主分类号： | G01N1/04 | 分类号： | G01N1/04;B25J9/00;B25J9/02;B25J15/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 312000 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，其结构设有支撑柱、滑架、移动装置、滑块、总动机，滑架嵌固安装在支撑柱上方，移动装置固定连接在滑块上，通过活动体受到吸附力时呈横向摆置，在吸取口内侧上方一定距离处形成挡口状态，对立设置的气垫产生相触并相抵，在气垫、褶皱片的配合下而灵活变动，不因实板前端摩擦过大而妨碍其横向摆置，由软管两两间隔间形成竖向通透径结构，便于气流流通，在活动体下方形成吸附效果，利于将集成电路样品吸取起来，对样品有均衡的吸力，从而保证只吸取一个电路板，且对不同规格大小的样品有匀称吸力，避免片状样品在吸力大小不同时出现翘摆卡进吸取装置内部，而降低抽取工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 样品 随机 抽取 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于蔡文敢，未经蔡文敢许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111044799.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
