[发明专利]一种集成电路测试用的样品随机抽取设备

权利要求书

1.一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，其结构设有支撑柱(1)、滑架(2)、移动装置(3)、滑块(4)、总动机(5)，所述滑架(2)嵌固安装在支撑柱(1)上方，所述移动装置(3)固定连接在滑块(4)上，所述滑块(4)与滑架(2)滑动连接，所述总动机(5)固定安装于滑架(2)一侧端，所述移动装置(3)通过滑块(4)活动于滑架(2)上方，其特征在于：

所述移动装置(3)设有限位架(31)、驱动机(32)、定位块(33)、驱摆板(34)、随机抽取装置(35)，所述驱动机(32)固定连接在限位架(31)一侧端位置处，所述定位块(33)与限位架(31)相贯通且滑动配合，所述驱摆板(34)铰接连接于定位块(33)一侧偏下端位置处，所述随机抽取装置(35)与驱摆板(34)相连接且活动配合。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，其特征在于：所述随机抽取装置(35)设有吸取装置(a1)、控端(a2)、竖板(a3)、连动架(a4)，所述控端(a2)安装在吸取装置(a1)上端且相配合，所述竖板(a3)间隙配合连接在吸取装置(a1)外侧端，所述竖板(a3)顶端与连动架(a4)前端铰接连接且活动配合。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，其特征在于：所述吸取装置(a1)设有吸附腔(a11)、吸取口(a12)、活动体(a13)、衔接架(a14)，所述吸附腔(a11)与吸取装置(a1)为一体化结构，所述吸取口(a12)位于吸附腔(a11)底端位置，所述活动体(a13)侧端与吸附腔(a11)内侧偏下端位置铰接连接，所述衔接架(a14)上端固定连接在吸附腔(a11)内侧，所述衔接架(a14)下端与活动体(a13)相连接且活动配合。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，其特征在于：所述活动体(a13)设有实板(q1)、缓冲端口(q2)、变动体(q3)，所述缓冲端口(q2)与实板(q1)为一体化结构且位于其前端位置，所述变动体(q3)连接在实板(q1)中间区段位置处且活动配合。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，其特征在于：所述缓冲端口(q2)设有气垫(q21)、软块(q22)、褶皱片(q23)，所述软块(q22)固定连接在气垫(q21)内侧，所述褶皱片(q23)与软块(q22)末端相连接且活动配合。

6.根据权利要求4所述的一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，其特征在于：所述变动体(q3)设有伸缩板(q31)、软管(q32)、挡口块(q33)，所述软管(q32)上下端与伸缩板(q31)内侧端铰接连接，所述挡口块(q33)下端嵌入于软管(q32)之间，所述挡口块(q33)贯穿过伸缩板(q31)内部且活动卡合。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，其特征在于：所述挡口块(q33)设有韧杆(c1)、顶块(c2)、卡口块(c3)，所述顶块(c2)嵌固连接在韧杆(c1)底部，所述卡口块(c3)连接在韧杆(c1)顶端且活动配合。

8.根据权利要求7所述的一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，其特征在于：所述卡口块(c3)设有弹块(c31)、折杆(c32)、贯穿杆(c33)，所述折杆(c32)铰接连接在弹块(c31)内侧且活动配合，所述贯穿杆(c33)穿接过卡口块(c3)内部偏上端位置，所述折杆(c32)上端与贯穿杆(c33)活动连接。