[发明专利]一种集成电路测试用的样品随机抽取设备

说明书

本发明公开了一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，其结构设有支撑柱、滑架、移动装置、滑块、总动机，滑架嵌固安装在支撑柱上方，移动装置固定连接在滑块上，通过活动体受到吸附力时呈横向摆置，在吸取口内侧上方一定距离处形成挡口状态，对立设置的气垫产生相触并相抵，在气垫、褶皱片的配合下而灵活变动，不因实板前端摩擦过大而妨碍其横向摆置，由软管两两间隔间形成竖向通透径结构，便于气流流通，在活动体下方形成吸附效果，利于将集成电路样品吸取起来，对样品有均衡的吸力，从而保证只吸取一个电路板，且对不同规格大小的样品有匀称吸力，避免片状样品在吸力大小不同时出现翘摆卡进吸取装置内部，而降低抽取工作效率。

技术领域

本发明属于集成电路测试技术领域，更具体地说，尤其是涉及到一种集成电路测试用的样品随机抽取设备。

背景技术

随着科技的发展，集成电作为微型电子器件，在现代生产生活中普遍存在，在生产集成电路生产后，还需要进行验收测试，通常是利用样品随机抽取设备对众多集成电路样品进行随机抽取检测，以此估算合格率。

基于上述本发明人发现，现有的集成电路测试用的样品随机抽取设备存在以下不足：

集成电路样品的生产规格各有不同，在利用抽取设备对闲散放置的众多样品进行随机抽取时，吸取口是对样品有吸附力而将其吸夹起来，由于片状的样品规格不同，吸附力对其的吸动力不一，会使样片受力翘摆继而进入抽取装置中，在其内部出现卡角现象，且部分重量较小的样品容易多量被吸附，导致随机抽取量过多，而影响随机抽取检验效率工作。

因此需要提出一种集成电路测试用的样品随机抽取设备。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明目的是提供一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，以解决现有技术的问题。

为了实现上述目的，本发明是通过如下的技术方案来实现：一种集成电路测试用的样品随机抽取设备，其结构设有支撑柱、滑架、移动装置、滑块、总动机，所述滑架嵌固安装在支撑柱上方，所述移动装置固定连接在滑块上，所述滑块与滑架滑动连接，所述总动机固定安装于滑架一侧端，所述移动装置通过滑块活动于滑架上方。

所述移动装置设有限位架、驱动机、定位块、驱摆板、随机抽取装置，所述驱动机固定连接在限位架一侧端位置处，所述定位块与限位架相贯通且滑动配合，所述驱摆板铰接连接于定位块一侧偏下端位置处，所述随机抽取装置与驱摆板相连接且活动配合。

作为本发明的进一步改进，所述随机抽取装置设有吸取装置、控端、竖板、连动架，所述控端安装在吸取装置上端且相配合，所述竖板间隙配合连接在吸取装置外侧端，所述竖板顶端与连动架前端铰接连接且活动配合，所述吸取装置呈锥状结构，所述控端受控活动，所述竖板下端抵触在吸取装置外，为其位置提供一定稳定度。

作为本发明的进一步改进，所述吸取装置设有吸附腔、吸取口、活动体、衔接架，所述吸附腔与吸取装置为一体化结构，所述吸取口位于吸附腔底端位置，所述活动体侧端与吸附腔内侧偏下端位置铰接连接，所述衔接架上端固定连接在吸附腔内侧，所述衔接架下端与活动体相连接且活动配合，所述吸取口呈圆环形态的开口状态，所述活动体呈左右对称结构，所述衔接架设有两个具有一定限度伸缩性，且呈对称结构。

作为本发明的进一步改进，所述活动体设有实板、缓冲端口、变动体，所述缓冲端口与实板为一体化结构且位于其前端位置，所述变动体连接在实板中间区段位置处且活动配合，所述缓冲端口前端口具有一定柔韧度，所述变动体可进行伸缩变动。

作为本发明的进一步改进，所述缓冲端口设有气垫、软块、褶皱片，所述软块固定连接在气垫内侧，所述褶皱片与软块末端相连接且活动配合，所述气垫呈弧状，且可进行凹陷变动，所述软块为塑性弹性体材质的块状物，具有较好的弹性度，所述褶皱片可进行折合、平展活动。