[发明专利]一种集成电路测试分选机的分粒设备

摘要

本发明提供一种集成电路测试分选机的分粒设备，其结构包括筛选箱、入料端、拆卸环、成品箱、配电箱、控制端，筛选箱上端与入料端相通，拆卸环嵌入于筛选箱的外环，成品箱安装于拆卸环的下方，配电箱的侧边与成品箱相互贴合，控制端与配电箱进行通电连接，本发明由筛选箱的筛选器将粒子通过设备的震动与控制旋转筛选的过程中粒子容易跳入筛选器与内壁的间隙之中致使其可通过筛选环两侧的凹槽将不良品粒子进行集中到归纳体之中进而通过引导通道与导出端的相互配合下能够有效的快速将粒子排出设备外部，从而防止了粒子卡在间隙之中导致的筛选环的变形故障并且能够有效的及时将跳入间隙的不良品粒子进行快速脱离设备达到分离效果。