[发明专利]一种集成电路测试分选机的分粒设备

权利要求书

1.一种集成电路测试分选机的分粒设备，其结构包括，筛选箱(1)、入料端(2)、拆卸环(3)、成品箱(4)、配电箱(5)、控制端(6)其特征在于：所述筛选箱(1)上端与入料端(2)相通，所述拆卸环(3)嵌入于筛选箱(1)的外环，所述成品箱(4)安装于拆卸环(3)的下方，所述配电箱(5)的侧边与成品箱(4)相互贴合，所述控制端(6)与配电箱(5)进行通电连接；

所述筛选箱(1)设有实心层(11)、内壁(12)、筛选器(13)、连接槽(14)，所述实心层(11)与内壁(12)为一体，所述筛选器(13)与内壁(12)进行间隙配合，所述连接槽(14)与筛选器(13)的上端相通。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机的分粒设备，其特征在于：所述筛选器(13)设有定位层(131)、筛选环(132)、凹槽(133)、归纳体(134)，所述定位层(131)与筛选环(132)进行间隙配合，所述凹槽(133)安装于筛选环(132)的两侧，所述归纳体(134)嵌入于凹槽(133)之中。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试分选机的分粒设备，其特征在于：所述归纳体(134)设有限位层(a1)、引导通道(a2)、导出端(a3)、提升轮(a4)，所述限位层(a1)与引导通道(a2)为一体，所述导出端(a3)嵌入于引导通道(a2)之中，所述提升轮(a4)安装于导出端(a3)的两边。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试分选机的分粒设备，其特征在于：所述导出端(a3)设有块体(a31)、通孔(a32)、活动空间(a33)、旋转体(a34)、推动杆(a35)，所述块体(a31)与通孔(a32)为一体，所述活动空间(a33)与通孔(a32)相通，所述旋转体(a34)安装于块体(a31)的下端，所述推动杆(a35)与旋转体(a34)进行活动连接。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试分选机的分粒设备，其特征在于：所述推动杆(a35)设有缺槽孔(b1)、开合层(b2)、支撑块(b3)，所述缺槽孔(b1)与开合层(b2)为一体，所述支撑块(b3)安装于开合层(b2)的两侧。

6.根据权利要求2所述的一种集成电路测试分选机的分粒设备，其特征在于：所述筛选环(132)设有第一筛选板(c1)、第二筛选板(c2)、转动轮(c3)、平衡块(c4)，所述第一筛选板(c1)与第二筛选板(c2)为同一圆心，所述转动轮(c3)嵌入于第二筛选板(c2)的圆心部位之中，所述平衡块(c4)安装于转动轮(c3)的外环。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试分选机的分粒设备，其特征在于：所述第二筛选板(c2)设有限位环(c21)、滚珠(c22)、筛选孔(c23)，所述限位环(c21)与滚珠(c22)进行间隙配合，所述筛选孔(c23)与滚珠(c22)相通。

8.根据权利要求7所述的一种集成电路测试分选机的分粒设备，其特征在于：所述滚珠(c22)设有定位杆(d1)、接触体(d2)、定点块(d3)，所述定位杆(d1)与接触体(d2)进行间隙配合，所述定点块(d3)安装于接触体(d2)的圆心部位。