[发明专利]一种基于太赫兹时域光谱的绝缘子污秽度检测方法及装置在审
| 申请号： | 202110934761.4 | 申请日： | 2021-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN113624712A | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 宗鹏锦;刘荣海;邱方程;郭新良;蔡晓斌;李鹏吾;郑欣;杨迎春;熊艳梅;许宏伟;代克顺;陈国坤;焦宗寒;袁涛 | 申请（专利权）人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/3586 | 分类号： | G01N21/3586;G01N21/3563;G01N21/55 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于太赫兹时域光谱的绝缘子污秽度检测方法及装置，包括配置不同质量NaCl的绝缘子污秽样品；计算不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的等值盐密；通过反射式太赫兹时域光谱仪对绝缘子污秽样品的等值盐密进行检测，得到绝缘子污秽样品的太赫兹光谱；通过绝缘子污秽样品的太赫兹光谱，建立不同等值盐密绝缘子污秽样品的光谱对比数据库，得到标准数据库；获取待测绝缘子，通过反射式太赫兹时域光谱仪得到待测绝缘子污秽的太赫兹光谱；将待测绝缘子污秽的太赫兹光谱与标准数据库进行对比，得到待测绝缘子表面污秽的等值盐密，进而可知待测绝缘子的污秽度。本发明通过太赫兹时域光谱技术，能够对绝缘子污秽度实现快速、准确、高效、无损的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 赫兹 时域 光谱 绝缘子 污秽 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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