[发明专利]一种基于太赫兹时域光谱的绝缘子污秽度检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种基于太赫兹时域光谱的绝缘子污秽度检测方法及装置，包括配置不同质量NaCl的绝缘子污秽样品；计算不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的等值盐密；通过反射式太赫兹时域光谱仪对绝缘子污秽样品的等值盐密进行检测，得到绝缘子污秽样品的太赫兹光谱；通过绝缘子污秽样品的太赫兹光谱，建立不同等值盐密绝缘子污秽样品的光谱对比数据库，得到标准数据库；获取待测绝缘子，通过反射式太赫兹时域光谱仪得到待测绝缘子污秽的太赫兹光谱；将待测绝缘子污秽的太赫兹光谱与标准数据库进行对比，得到待测绝缘子表面污秽的等值盐密，进而可知待测绝缘子的污秽度。本发明通过太赫兹时域光谱技术，能够对绝缘子污秽度实现快速、准确、高效、无损的检测。

技术领域

本发明涉及输电线路运行检测技术领域，尤其涉及一种基于太赫兹时域光谱的绝缘子污秽度检测方法及装置。

背景技术

绝缘子表面的污秽是电力系统的主要灾害之一。随着外绝缘表面污秽度的增大，绝缘水平降低，尤其在雨、雾等天气时，电力系统发生污闪事故的风险将大大增加，严重影响电网稳定运行。而支柱绝缘子防污工作与变电站、换流站安全稳定运行息息相关，积污特性观测亦是电力系统污区分级和外绝缘配置的基础工作。

输电线路绝缘子的闪络一直是电网安全稳定运行亟待解决的关键问题，其中绝缘子污秽闪络对电力系统具有极强破坏性。污闪通常有两大特点：一是多点同时，即在雾、露、毛毛雨等潮湿天气条件下环境相似、爬距相同的多条线路绝缘子会同时发生故障；二是重合闸不易成功而造成线路长时间接地事故。因此，污闪易引发系统失去稳定而导致大面积停电事故。

为了防止污闪的发生，多种绝缘子污秽检测方法已应用于实验室和现场中。评估绝缘子污秽程度常用方法有等值盐密法、泄漏电流法、表面污层电导率法等。传统接触式绝缘子污秽测量方法具有一定的局限性，如等值盐密法操作过程繁琐，泄漏电流法易受外界因素影响，表面污层电导率法测量分散性较大且测量麻烦。红外热像法、紫外成像法等光谱分析技术以其非接触式检测的优势，在绝缘子污闪防治工作中也得到了广泛的应用，但这两种方法成像或分辨率较低，或波谱较窄(只在特定波段成像)，仅能反映绝缘子的发热或放电特征，无法全面反映绝缘子的污秽状态。

发明内容

本发明提供了一种基于太赫兹时域光谱的绝缘子污秽度检测方法及装置，以解决传统接触式绝缘子污秽测量方法存在一定局限性的问题。

第一方面，本发明提供一种基于太赫兹时域光谱的绝缘子污秽度检测方法，所述方法包括以下步骤：

步骤1:配置不同质量NaCl的绝缘子污秽样品；

步骤2:计算不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的等值盐密；

步骤3:通过反射式太赫兹时域光谱仪对不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的等值盐密进行检测，得到不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的太赫兹光谱；

步骤4:通过不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的太赫兹光谱，建立不同等值盐密绝缘子污秽样品的光谱对比数据库，得到标准数据库；

步骤5:获取待测绝缘子，通过反射式太赫兹时域光谱仪得到待测绝缘子污秽的太赫兹光谱；

步骤6：将待测绝缘子污秽的太赫兹光谱与标准数据库进行对比，得到待测绝缘子表面污秽的等值盐密，进而可知待测绝缘子的污秽度。

可选择的，所述通过反射式太赫兹时域光谱仪对不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的等值盐密进行检测，得到不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的太赫兹光谱包括：通过反射式太赫兹时域光谱仪对不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的等值盐密进行多次检测，然后取多次实验取数据的平均值，得到不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的太赫兹光谱。