[发明专利]一种微焦点射线源用分辨率测试卡及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110900947.8 申请日: 2021-08-06
公开(公告)号: CN113701999A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 孔文文;王刘成;张伟;仇小军;侯颀 申请(专利权)人: 无锡日联科技股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人: 刘松
地址: 214112 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种微焦点射线源用分辨率测试卡及其制备方法,包括以下步骤:对基体进行预处理,使表面洁净;在洁净的基体上生长一层重金属层;在重金属层上甩涂一层光刻胶,并烘烤固形;设计分辨率测试卡图案,并转换成激光直写设备可识别的代码;将基体放置于曝光平台,使除所需图案以外区域的光刻胶曝光;将曝光后的基体置于显影液中浸泡,待分辨率测试卡图像显现后,清洗并烘干;去除掉没有光刻胶保护区域的薄膜,结束后将基体清洗洁净;在刻蚀后的基体表面生长一层保护层,制备完成分辨率测试卡芯片;将分辨率测试卡芯片固定在中心开孔的铝板上,并在其表面做一层保护膜;大大提高了微焦点射线源空间分辨率的检测精度。
搜索关键词: 一种 焦点 射线 分辨率 测试 及其 制备 方法
【主权项】:
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