[发明专利]集成电路性能分析方法、装置、仿真设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110886259.0 | 申请日： | 2021-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN113779915A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 曾健忠 | 申请（专利权）人： | 深圳天狼芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/367 | 分类号： | G06F30/367;G06F11/22;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 任敏 |
| 地址： | 518000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于集成电路技术领域，提供了一种集成电路性能分析方法、装置、仿真设备及存储介质，通过首先对目标电路进行较少次数的蒙地卡罗模拟，获得目标电路的模拟结果；然后对目标电路的模拟结果进行变异数分析，获得目标电路的变异数分析结果；再然后根据目标电路的变异数分析结果，确定目标电路中的关键器件，并根据预设乱数表对关键器件进行符合高良率要求的蒙地卡罗模拟，获得与关键器件的最差模拟结果对应的预设乱数表中的乱数组合；最后根据乱数组合对目标电路进行蒙地卡罗模拟，获得目标电路的最差模拟结果，并根据目标电路的最差模拟结果，获得目标电路的良率分析结果，可以有效节约对目标电路进行产业化验证时耗费的资源并降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 性能 分析 方法 装置 仿真 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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