[发明专利]一种集成电路电子元器件测试系统在审
| 申请号： | 202110858029.3 | 申请日： | 2021-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN113663930A | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 王晓龙 | 申请（专利权）人： | 王晓龙 |
| 主分类号： | B07C5/06 | 分类号： | B07C5/06;B07C5/02;B07C5/38;G01R31/01;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 362000 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路电子元器件测试系统，其结构包括出料口、顶盖、处理装置、底板，所述出料口嵌固在处理装置前端表面，所述顶盖焊接在处理装置上端表面，所述底板上端设有出料口，电子元器件在测试前从进料口进入处理装置中，电子元器件通过输送带产生运动，使得电子元器件能够快速从处理槽中的开口通过进入下端分离板，当电子元器件落到分离板上时，不能通过的元器件沿着分离板向右滑动进入收集槽中，当电子元器件从分拣装置下落到处理装置内部下端时，堆积的电子元器件在推板的移动下被推平，经过排列架时，电子元器件只能单个通过，量杆对元器件进行大小固定，使得测试杆在测试电子元器件时能够随着量杆的移动而进行调节。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 电子元器件 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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