[发明专利]光检测和测距系统以及光学系统在审
| 申请号： | 202110856771.0 | 申请日： | 2021-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN114325727A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | G·拉库尔吉克 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G01S17/02 | 分类号： | G01S17/02;G01S17/08;G01S7/481 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 黄嵩泉;张鑫 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及光检测和测距系统以及光学系统。提供了使用第一发射结构的第一电磁辐射作为从光检测和测距系统外部接收到的第二电磁辐射的本地振荡器信号的光检测和测距系统，其中第一电磁辐射和第二电磁辐射是相干的，并且得到的信号由检测结构检测。得到的信号与光检测和测距系统外部的目标的信息相对应。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 测距 系统 以及 光学系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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