[发明专利]一种屏幕缺陷的测量方法、装置及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202110843281.7 | 申请日： | 2021-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN113643245A | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 郑国荣;胡斌;谢松乐;胡一爽 | 申请（专利权）人： | 深圳市鑫信腾科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/62;G06T7/66;G06T7/73;G01N21/88;G06K9/62 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 杨志强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区留仙三*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供了一种屏幕缺陷的测量方法，该方法包括：获取待处理图像，待处理图像包括原始缺陷；对待处理图像进行增强，得到增强图像；根据增强图像，确定并提取第一缺陷，第一缺陷为增强后的原始缺陷；确定第一缺陷对应的类型，类型包括点缺陷、线缺陷中的至少一种；针对不同类型的第一缺陷，利用不同方法对第一缺陷的尺寸进行测量。本申请提供的方法，可以实现对屏幕缺陷的精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 屏幕 缺陷 测量方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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