[发明专利]一种屏幕缺陷的测量方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本申请提供了一种屏幕缺陷的测量方法，该方法包括：获取待处理图像，待处理图像包括原始缺陷；对待处理图像进行增强，得到增强图像；根据增强图像，确定并提取第一缺陷，第一缺陷为增强后的原始缺陷；确定第一缺陷对应的类型，类型包括点缺陷、线缺陷中的至少一种；针对不同类型的第一缺陷，利用不同方法对第一缺陷的尺寸进行测量。本申请提供的方法，可以实现对屏幕缺陷的精确测量。

技术领域

本申请属于屏幕缺陷检测技术领域，尤其涉及一种屏幕缺陷的测量方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

屏幕作为移动终端重要的构成部分，屏幕的质量好坏直接关系到产品的正常使用。当屏幕上的存在缺陷时，会影响产品的光学特性，严重破坏使用价值。音系，对屏幕的缺陷进行检测以及测量十分重要。

目标，对屏幕的检测大多只是将缺陷检测出来，而无法达到工业界需求的精确测量的程度。

发明内容

本申请实施例提供了一种屏幕缺陷的测量方法、装置及计算机可读存储介质，可以解决不能对屏幕缺陷进行精确测量的问题。

第一方面，本申请提供了一种屏幕缺陷的测量方法，该方法包括：获取待处理图像，待处理图像包括原始缺陷；对待处理图像进行增强，得到增强图像；根据增强图像，确定并提取第一缺陷，第一缺陷为增强后的原始缺陷；确定第一缺陷对应的类型，类型包括点缺陷、线缺陷中的至少一种；针对不同类型的第一缺陷，利用不同方法对第一缺陷的尺寸进行测量。

第一方面提供的方法，通过获取含有原始缺陷的待处理图像，将该待处理图像进行增强处理，得到增强图像。根据增强图像确定第一缺陷。并且，将第一缺陷从待处理图像中进行提取，该第一缺陷是指增强后的原始缺陷，相比于原始缺陷，第一缺陷的轮廓更加清晰。为了实现精准测量，将第一缺陷进行分类，确定第一缺陷为点缺陷或者线缺陷。根据第一缺陷的类型，利用不同的方法对第一缺陷的尺寸进行测量，实现对缺陷的精准测量。

可选的，利用配置远心镜头的相机，对屏幕局部区域进行拍摄，得到对应的待处理图像。该种实现方式中，利用配置远心镜头的相机可以对屏幕缺陷进行激光定位，精准找到屏幕缺陷后，进行局部区域图像的拍摄，从而可以获取高质量的缺陷图。

可选的，对待处理图像进行图像增强，得到增强图像，包括：利用待处理图像的像素点的通道进行求和，得到增强图像。该种实现方式中，通过将待处理图像中的像素点的红、绿、蓝通道进行通道求和，将原始图像的像素点进行增强，得到增强图像。

可选的，根据增强图像，提取第一缺陷，包括：利用待处理图像和基准图像进行差分，得到差分图像，差分图像包括第一缺陷和杂质。该种实现方式中，利用包含有原始缺陷的待处理图像和没有缺陷的基准图像进行差分，可以快速提取第一缺陷。

可选的，可以利用聚类算法，从差分图像中提取第一缺陷。该种实现方式中，利用聚类算法可以将差分图像中的第一缺陷和杂质进行区分。

可选的，根据增强图像，提取第一缺陷，包括：利用灰度直方图，从待处理图像中提取第一缺陷。该种实现方式中，直接利用灰度直方图，设置像素点阈值，将第一缺陷从待处理图像中提取出来。

可选的，针对不同类型的第一缺陷，利用不同方法对第一缺陷的尺寸进行测量，包括：当第一缺陷为点缺陷时，根据点缺陷的外接矩形的长和宽，确定点缺陷的尺寸。该种实现方式中，由于点缺陷占外接矩形的比值较高，因此，可以根据点缺陷的外接矩形直接作为点缺陷的尺寸。

可选的，针对不同类型的第一缺陷，利用不同方法对第一缺陷的尺寸进行测量，包括：当第一缺陷为线缺陷时，根据Rosenfeld算法提取线缺陷的中心线；基于中心线的长度确定线缺陷的长度；基于中心线到线缺陷的轮廓边缘的距离确定线缺陷的宽度。该种实现方式中，为了便于对线缺陷进行测量，可以根据提取到的线缺陷的中心线的长度作为线缺陷的长度，根据中心线到缺陷的轮廓边缘的距离确定线缺陷的宽度，从而实现对线缺陷的精确测量。