[发明专利]一种屏幕缺陷的测量方法、装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种屏幕缺陷的测量方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待处理图像，所述待处理图像包括原始缺陷；

对所述待处理图像进行增强，得到增强图像；

根据所述增强图像，确定并提取第一缺陷，所述第一缺陷为增强后的所述原始缺陷；

确定所述第一缺陷对应的类型，所述类型包括点缺陷、线缺陷中的任意一种；

针对不同类型的所述第一缺陷，利用不同方法对所述第一缺陷的尺寸进行测量。

2.根据权利要求1所述的方法，所述获取待处理图像包括：

利用配置远心镜头的相机，对屏幕局部区域进行拍摄，得到对应的所述待处理图像。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对所述待处理图像进行增强，得到增强图像，包括：

利用所述待处理图像的像素点的通道进行求和，得到所述增强图像。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述增强图像，提取第一缺陷，包括：

利用所述待处理图像和基准图像进行差分，得到差分图像，所述差分图像包括所述第一缺陷和杂质。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

利用聚类算法，从所述差分图像中提取所述第一缺陷。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述增强图像，提取第一缺陷，包括：

利用灰度直方图，从所述待处理图像中提取所述第一缺陷。

7.根据权利要求4至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述针对不同类型的所述第一缺陷，利用不同方法对所述第一缺陷的尺寸进行测量，包括：

当所述第一缺陷为点缺陷时，根据所述点缺陷的外接矩形的长和宽，确定所述点缺陷的尺寸。

8.根据权利要求4至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述针对不同类型的所述第一缺陷，利用不同方法对所述第一缺陷的尺寸进行测量，包括：

当所述第一缺陷为线缺陷时，根据Rosenfeld算法提取所述线缺陷的中心线；

基于所述中心线的长度确定所述线缺陷的长度；

基于所述中心线到所述线缺陷的轮廓边缘的距离，确定所述线缺陷的宽度。

9.一种屏幕缺陷测量装置，其特征在于，包括：远心镜头、处理器及存储器；所述远心镜头用于拍摄所述待处理图像，所述处理器和存储器耦合，所述存储器存储有程序指令，当所述存储器存储的程序指令被所述处理器执行时执行如权利要求1至8中任一项所述的屏幕缺陷测量方法中的处理步骤。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8任一项所述方法。