[发明专利]一种半导体测试方法及装置在审
| 申请号： | 202110837437.0 | 申请日： | 2021-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN113484731A | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 苏广峰;姜伟伟 | 申请（专利权）人： | 安测半导体技术（江苏）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京文苑专利代理有限公司 11516 | 代理人： | 于利晓 |
| 地址： | 225000 江苏省扬州市高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种半导体测试方法及装置，该方法包括：采集芯片当前多点位频率值信息；将多点位频率值信息传递给外部运算服务；外部运算服务执行复杂矩阵运算，得到符合条件的补偿系数；外部运算服务返回符合条件的补偿系数给测试程序；测试程序将符合条件的补偿系数烧录进芯片NVM存储区；再次采集芯片多点位频率值信息，确认补偿结果。本申请将复杂矩阵算法从原有测试程序剥离，摆脱了原测试程序的软硬件限制。本申请缩短了软件开发的时间，降低了开发的难度，提高了芯片测试的效率和正确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安测半导体技术（江苏）有限公司，未经安测半导体技术（江苏）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110837437.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：便于超细粉末收集的立式磨粉机
- 下一篇：一种Ω型长桁预成型体制造方法
