[发明专利]一种半导体测试方法及装置

权利要求书

1.一种半导体测试方法，其特征在于，包括：

采集芯片当前多点位频率值信息；

将多点位频率值信息传递给外部运算服务；

外部运算服务执行复杂矩阵运算，得到符合条件的补偿系数；

外部运算服务返回符合条件的补偿系数给测试程序；

测试程序将符合条件的补偿系数烧录进芯片NVM存储区；

再次采集芯片多点位频率值信息，确认补偿结果。

2.根据权利要求1所述半导体测试方法，其特征在于，将多点位频率值信息传递给外部运算服务，包括：

测试程序呼叫外部运算管道函数，传入外部运算管道函数以下参数组：点位数组、频率数组、初始系数数组、初始修正系数数组。

3.根据权利要求1或2所述半导体测试方法，其特征在于，外部运算服务执行复杂矩阵运算，得到符合条件的补偿系数，包括：

进行点位数组/2¹⁹的计算得到拟合数组；

对初始系数矩阵进行转置运算得到系数转置矩阵；

对所述拟合数组进行运算得到范特蒙德矩阵；

所述系数转置矩阵与所述范特蒙德矩阵相乘得到多项式矩阵；

所述多项式矩阵进行伪逆计算得到多项式伪逆矩阵；

所述多项式伪逆矩阵与频率矩阵相乘得到基准衡量矩阵；

所述基准衡量矩阵与初始修正系数矩阵相乘得到频率多项式矩阵，所述频率多项式矩阵为最佳频率系数矩阵。

4.根据权利要求1-3任一项所述半导体测试方法，其特征在于，还包括：将传入函数、运算函数、返回函数、Math.NET Numerics包封装成动态链接库，所述动态链接库供测试程序调用。

5.根据权利要求1-3任一项所述半导体测试方法，其特征在于，还包括：将动态链接库放入测试机PC供测试程序调用。

6.一种半导体测试装置，其特征在于，包括：

测试程序单元，用于：采集芯片当前多点位频率值信息；将多点位频率值信息传递给外部运算服务单元；

外部运算服务单元，用于执行复杂矩阵运算，得到符合条件的补偿系数；返回符合条件的补偿系数给测试程序单元；

所述测试程序单元，用于将符合条件的补偿系数烧录进芯片NVM存储区；再次采集芯片多点位频率值信息，确认补偿结果。

7.根据权利要求6所述半导体测试装置，其特征在于，所述测试程序单元用于：

呼叫外部运算管道函数，传入外部运算管道函数以下参数组：点位数组、频率数组、初始系数数组、初始修正系数数组。

8.根据权利要求7所述半导体测试装置，其特征在于，所述外部运算服务单元用于：

进行点位数组/2¹⁹的计算得到拟合数组；

对初始系数矩阵进行转置运算得到系数转置矩阵；

对所述拟合数组进行运算得到范特蒙德矩阵；

所述系数转置矩阵与所述范特蒙德矩阵相乘得到多项式矩阵；

所述多项式矩阵进行伪逆计算得到多项式伪逆矩阵；

所述多项式伪逆矩阵与频率矩阵相乘得到基准衡量矩阵；

所述基准衡量矩阵与初始修正系数矩阵相乘得到频率多项式矩阵，所述频率多项式矩阵为最佳频率系数矩阵。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现所述权利要求1-5中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现所述权利要求1-5中任一项所述方法的步骤。